[發明專利]一種環形近場測試探頭的設計方法

在審

• 申請號: 201210412194.7
• 申請日: 2012-10-25
• 公開（公告）號: CN102955074A
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發明（設計）人: 宋博
• 申請（專利權）人: 西安開容電子技術有限責任公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R33/02
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 張培勛

1.一種環形近場測試探頭的設計方法，它至少包括探頭輻射體（1）、探頭腔體（2）、射頻回路（3）和射頻同軸連接器（5），其特征是：探頭腔體（2）是一端開口的中空絕緣殼體，其前端是圓環腔體，開口端有測試手柄（4），中間部分是桿狀腔體；探頭輻射體（1）呈半圓環狀設置在探頭腔體（2）的圓環腔體內，其末端位置位于探頭腔體（2）的圓環腔體與桿狀腔體的連接處；射頻回路（3）設置在探頭腔體（2）的另一半圓環腔體和桿狀腔體內，其前芯線與探頭輻射體（1）前端的外回路層搭接焊接，射頻回路（3）與探頭輻射體（1）在前端形成絕緣間隙（6）；射頻回路（3）與探頭輻射體（1）在探頭腔體（2）的圓環腔體與桿狀腔體連接處通過外層回路和芯線全部焊接導通；測試手柄（4）包裹在射頻回路（3）的末端外側；射頻同軸連接器（5）設置在探頭腔體（2）的開口端，并內嵌在測試手柄（4）的末端，射頻回路（3）后端的芯線插入射頻同軸連接器（5）內部且與射頻同軸連接器的線芯（7）焊接導通，射頻回路（3）與射頻同軸連接器（5）通過外回路層360°焊接固定。

2.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：所述的探頭腔體（2）的前端圓環腔體的直徑為1厘米至12厘米。

3.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：所述的探頭輻射體（1）與射頻回路（3）都是半鋼線或半柔線的射頻線纜，由外回路層包裹芯線構成。

4.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：所述的探頭輻射體（1）、射頻回路（3）和射頻同軸連接器（5）共同構成環巴倫接收測試裝置。

5.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：所述的測試手柄（4）是圓柱體絕緣棒。

6.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：所述的射頻同軸連接器（5）的類型是N型、BNC型、SMA型或TNC型。

7.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：所述的絕緣間隙（6）是通過射頻回路（3）的芯線與探頭輻射體（1）的外回路層焊接形成，絕緣間隙（6）的寬度為1毫米至4毫米。

8.根據權利要求1中所述的一種環形近場測試探頭的設計方法，其特征是：這種環形近場測試探頭的使用頻段是1kHz至4.5GHz。