[發(fā)明專利]背面穿硅通孔與金屬連線制法、和背面用的光掩模制法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210404030.X | 申請(qǐng)日: | 2012-10-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103779266A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳逸男;徐文吉;葉紹文;劉獻(xiàn)文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南亞科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768;G03F1/38 |
| 代理公司: | 深圳新創(chuàng)友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀純 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 背面 穿硅通孔 金屬 連線 制法 光掩模 | ||
1.一種制造背面穿硅通孔與金屬連線的方法,其特征在于:
進(jìn)行一穿孔中間制作工藝以于一半導(dǎo)體基板中形成一穿硅通孔結(jié)構(gòu);
于該半導(dǎo)體基板的正面形成一凸塊;
將該半導(dǎo)體基板與一載板結(jié)合;
將該半導(dǎo)體基板的背面薄化以露出該穿硅通孔結(jié)構(gòu);
于該半導(dǎo)體基板的背面涂布一光敏性介電層;
將該光敏性介電層圖案化而形成一開(kāi)口而露出該穿硅通孔結(jié)構(gòu);
形成一凸塊下金屬層;
于該凸塊下金屬層上形成一金屬層,填滿該開(kāi)口并覆蓋于該光敏性介電層上方;
將該金屬層圖案化形成一背面金屬連線;
移除多余的該凸塊下金屬層;以及
將該半導(dǎo)體基板與該載板分開(kāi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的制造背面穿硅通孔與金屬連線的方法,其特征在于:
將該光敏性介電層圖案化而形成該開(kāi)口而露出該穿硅通孔結(jié)構(gòu)的步驟包括下列步驟:
進(jìn)行背面對(duì)準(zhǔn)以取得穿硅通孔結(jié)構(gòu)位置,
通過(guò)一與該穿硅通孔結(jié)構(gòu)位置對(duì)準(zhǔn)的光掩模對(duì)該光敏性介電層曝光,及
將該光敏性介電層顯影,形成該開(kāi)口以露出該穿硅通孔結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的制造背面穿硅通孔與金屬連線的方法,其特征在于:
于將該半導(dǎo)體基板的背面薄化以露出該穿硅通孔結(jié)構(gòu)的步驟后,還包括:
對(duì)該半導(dǎo)體基板進(jìn)行濕式清洗。
4.根據(jù)權(quán)利要求2的制造背面穿硅通孔與金屬連線的方法,其特征在于:
以下述步驟制作該光掩模:
以一上視圖的視角畫(huà)出該半導(dǎo)體基板的穿硅通孔結(jié)構(gòu)形狀與位置及預(yù)定該背面金屬連線形狀與位置的第一圖案;
將該第一圖案取一鏡像,以產(chǎn)生對(duì)該半導(dǎo)體基板背面的視角來(lái)看,該穿硅通孔結(jié)構(gòu)形狀與位置和預(yù)定該背面金屬連線形狀與位置的第二圖案;以及
根據(jù)該第二圖案制作該光掩模。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的制造背面穿硅通孔與金屬連線的方法,其特征在于:
該金屬層包括銅。
6.一種制作背面用的光掩模的方法,其特征在于:
以一上視圖的視角獲得一半導(dǎo)體基板正面的穿硅通孔結(jié)構(gòu)形狀與位置及一預(yù)定的背面金屬連線形狀與位置的第一圖案;
將該第一圖案取一鏡像,產(chǎn)生由該半導(dǎo)體基板背面的視角來(lái)看,該穿硅通孔結(jié)構(gòu)形狀與位置和該預(yù)定的背面金屬連線形狀與位置的第二圖案;以及
根據(jù)該第二圖案制作該背面用的光掩模。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南亞科技股份有限公司,未經(jīng)南亞科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210404030.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





