[發明專利]發光二極管光電特性量測裝置

在審

• 申請號: 201210402060.7
• 申請日: 2012-10-19
• 公開（公告）號: CN103777127A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 黃明宏;曾培翔;施佩秀;尤家鴻;黃泯舜
• 申請（專利權）人: 晶元光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 楊波

技術領域

本發明揭露一發光二極管光電特性的量測裝置，特別是關于一種量測一晶圓型式(wafer?form)或晶粒型式(chip?form)發光二極管光電特性的裝置。

背景技術

積分球是一個中空球體單元，球體上可依需求開設數量不等的光輸入孔及光輸出孔，球體內壁為具有漫射及反射性質的涂層。當待測的發光二極管所產生的光通量從光輸入口射入積分球，經過積分球體內壁復雜的漫射及反射后，依內壁涂層的材料決定被積分球體內壁吸收的光通量，其余從光輸出口射出。積分球的作用就是收集此種由四面八方反射的光通量，通過特殊的設計，可取樣光輸出口處的光功率、光波形和光通量，換算后即可得到發光二極管的相應參數。

目前業界使用量測發光二極管的光功率等參數的商用設備IS(instrument?system)，其所使用的積分球直徑至少為10英寸，并具有一試片座2(其示意圖如圖2所示)直接固定于積分球的光輸入口(圖未示)，其設計只適用于發光二極管封裝體的量測。將待測的發光二極管TO封裝體61的接腳62直接插入試片座本體60，試片座本體60底端連接電源供應器(圖未示)以提供電流或電壓使得待測的發光二極管TO封裝體61產生的光通量射入積分球體內。

發明內容

本發明提供一發光二極管光電特性的量測裝置，包括：一容器，此容器具有一光輸入口及一光輸出口；一量測模塊，此量測模塊與容器的光輸出口連接；一試片承載臺，位于容器下方且可承載待測的發光二極管，其中試片承載臺表面具有相對于待測發光二極管所產生的光通量大于50%的反射率；及一光聚集單元，位于容器與試片承載臺之間，其中光聚集單元內壁具有相對于待測發光二極管所產生的光通量大于50%的反射率。

根據本發明的一個實施例，其中試片承載臺包括一承載體及形成于承載體之上的一薄層，且此薄層是由對待測發光二極管所產生的光通量具有大于50%反射率的材料所組成。

根據本發明的一個實施例，其中光聚集單元包括一本體及形成于本體內壁的一薄層，且此薄層是由對待測發光二極管所產生的光通量具有大于50%反射率的材料所組成。

上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和其他目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下。

附圖說明

圖1所示為本發明發光二極管光電特性量測裝置的結構圖。

圖2所示為目前業界使用的商用設備IS(instrument?system)試片座的示意圖。

具體實施方式

為更進一步闡述本發明為達成預定發明目的所采取的技術手段及功效，以下結合附圖及較佳實施例，對本發明的具體實施方式、結構、特征及其功效，詳細說明如后。

圖1所示為本發明所揭示的發光二極管光電特性量測裝置，其包括：一容器10，例如為一中空球體單元，具有一光輸入口10A及一光輸出口10B；一量測模塊11，此量測模塊11與容器10的光輸出口10B連接；一試片承載臺12，位于容器10的下方且可承載待測的發光二極管13；一光聚集單元14，位于容器10與試片承載臺12之間；及一電源供應器15，位于試片承載臺12之下。