[發(fā)明專利]使用相位調(diào)制進行磁缺陷分類

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210398642.2
• 申請日: 2012-10-19
• 公開（公告）號: CN103065656A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: R.L.加爾布雷思;W.M.漢森;M.A.哈斯納;T.R.奧伊寧;山本智
• 申請（專利權(quán)）人: HGST荷蘭公司
• 主分類號: G11B20/10
• 分類號: G11B20/10;G11B27/36
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 呂曉章

1.一種用于實現(xiàn)硬盤驅(qū)動器磁缺陷分類的方法，包括：

接收回讀信號并產(chǎn)生模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）回讀信號樣本；

處理所述ADC回讀信號樣本并生成相位調(diào)制（PM）信號；以及

使用所述相位調(diào)制（PM）信號對磁性介質(zhì)凸起和凹坑缺陷進行分類。

2.如權(quán)利要求1所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，其中處理所述ADC回讀信號樣本并生成相位調(diào)制（PM）信號進一步包括生成幅度調(diào)制（AM）信號。

3.如權(quán)利要求2所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，包括使用所述相位調(diào)制（PM）信號和所述幅度調(diào)制（AM）信號，以對磁性介質(zhì)凸起和凹坑缺陷進行分類。

4.如權(quán)利要求2所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，包括使用所述相位調(diào)制（PM）信號并識別缺陷窗口。

5.如權(quán)利要求1所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，其中處理所述ADC回讀信號樣本并生成相位調(diào)制（PM）信號包括對所述ADC回讀信號樣本信號進行帶通濾波。

6.如權(quán)利要求5所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，包括通過賦值相鄰的ADC樣本對形成復(fù)數(shù)德爾塔向量。

7.如權(quán)利要求6所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，其中所述回讀信號是2T模式回讀信號并包括賦值被表示為如下的2T模式相鄰ADC樣本對：

0→ΔV_n=+x_n+1+jx_n(x_n是0,x_n+1是+峰值)

1→ΔV_n=+x_n-jx_n+1(x_n是+峰值,x_n+1是0)

2→ΔV_n=-x_n+1-jx_n(x_n是0,x_n+1是-峰值)

3→ΔV_n=-x_n+jx_n+1(x_n是-峰值,x_n+1是0)

8.如權(quán)利要求6所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，包括使用迭代的移位和加法算法進行三角計算。

9.如權(quán)利要求8所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的方法，包括旋轉(zhuǎn)所述復(fù)數(shù)德爾塔向量以提供正實數(shù)向量。

10.一種用于實現(xiàn)硬盤驅(qū)動器磁缺陷分類的設(shè)備，包括：

接收回讀信號并產(chǎn)生ADC回讀信號樣本的模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）；

與所述ADC耦合、接收所述ADC回讀信號樣本并生成相位調(diào)制（PM）信號的信號處理電路；以及

與所述信號處理電路耦合、使用所述相位調(diào)制（PM）信號對磁性介質(zhì)凸起和凹坑缺陷進行分類的缺陷分類函數(shù)單元。

11.如權(quán)利要求10所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的設(shè)備，其中所述信號處理電路生成幅度調(diào)制（AM）信號。

12.如權(quán)利要求11所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的設(shè)備，其中所述缺陷分類函數(shù)單元使用所述相位調(diào)制（PM）信號和所述幅度調(diào)制（AM）信號，以對磁性介質(zhì)凸起和凹坑缺陷進行分類。

13.如權(quán)利要求10所述的用于實現(xiàn)磁缺陷分類的設(shè)備，其中所述信號處理電路包括與所述ADC耦合的對所述ADC回讀信號樣本進行帶通濾波的帶通濾波器。

14.如權(quán)利要求10所述的用于實現(xiàn)數(shù)據(jù)檢測的設(shè)備，其中所述信號處理電路包括與所述帶通濾波器耦合的通過賦值相鄰ADC樣本對形成復(fù)數(shù)德爾塔向量的德爾塔向量函數(shù)單元。