[發明專利]FPGA單粒子閂鎖監測方法及裝置

有效

• 申請號: 201210398220.5
• 申請日: 2012-10-18
• 公開（公告）號: CN103777135A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 王群勇;馮穎;陽輝;陳冬梅;陳宇;劉燕芳;白樺
• 申請（專利權）人: 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317;G01R19/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種FPGA單粒子閂鎖監測方法，其特征在于，該方法包括：

a、使用重離子束流輻照FPGA，監測FPGA的工作電流，當所述工作電流超過規定值時，對FPGA進行重新配置；

b、若上述重新配置失敗，則對FPGA進行斷電重啟，重新加載程序；

c、若上述重新加載程序成功，則記錄一次單粒子閂鎖。

2.如權利要求1所述的監測方法，其特征在于，所述步驟a中，使用計算機控制的可編程電源，通過測量采樣電阻的壓降來監視FPGA的工作電流。

3.如權利要求1所述的監測方法，其特征在于，所述步驟a中，同時監測FPGA的工作溫度。

4.如權利要求1所述的監測方法，其特征在于，所述步驟a中，所述工作電流超過規定值，是指超過FPGA器件正常工作電流的1.5倍。

5.如權利要求1所述的監測方法，其特征在于，在所述步驟a之后，若對FPGA重新配置成功，則繼續監測所述工作電流。

6.如權利要求1所述的監測方法，其特征在于，在所述步驟b之后，若FPGA重新加載程序失敗，則表示FPGA損壞。

7.如權利要求1所述的監測方法，其特征在于，在所述步驟c之后，進一步包括以下步驟：

設定當單粒子閂鎖總數達到預設值或重離子總注量達到預設量時，停止輻照。

8.一種電流監測裝置，其特征在于，該裝置包括：

電流檢測放大單元，用于檢測采樣電阻的電流，并放大采樣電阻的電壓；

電壓比較單元，與所述電流檢測放大單元相連，用于比較采樣電阻的電壓和參考電壓，并根據比較結果輸出高電平或低電平；

場效應晶體管，與所述電壓比較單元相連，根據所述電壓比較單元輸出的電平來控制負載供電電路的導通和截止。

9.如權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述電流檢測放大單元和電壓比較單元采用MAX4373芯片實現。