[發明專利]基于壓縮感知成像系統的探測器非線性飽和矯正還原方法

有效

• 申請號: 201210396348.8
• 申請日: 2012-10-17
• 公開（公告）號: CN102865889A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 何偉基;莊佳衍;陳錢;顧國華;張聞文;錢惟賢;隋修寶;于雪蓮;路東明
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 唐代盛

1.一種基于壓縮感知成像系統的探測器非線性飽和矯正還原方法，其特征在于在探測器測量值受到非線性飽和效應的影響下，通過判斷測量值受非線性影響的程度，選擇飽和排斥矯正或飽和反饋矯正,其中飽和排斥矯正是排除掉受非線性影響的測量點，飽和反饋矯正則是根據已給出的探測器響應曲線,對測量值做反饋處理，修正所測得的測量值，將處理結束后的測量值輸入計算機進行還原得到還原圖像。

2.根據權利要求1所述的基于壓縮感知成像系統的探測器非線性飽和矯正還原方法，其特征在于具體步驟如下：

（1）從數據采集模塊獲得測得的M組待處理的測量值,M為正整數。

（2）根據探測器所給出的響應曲線，判斷測量值是否處于非線性響應區域，設探測器對于光強的線性探測范圍為σ'＜E＜σ，其中σ﹑σ'﹑E均為光強；當E≥σ或E≤σ'時，判斷為測量值處于非線性狀態，選擇飽和排斥矯正或飽和反饋矯正處理；

（3）若測量值中大于等于50%的數據受到非線性影響，則使用飽和反饋矯正，反之則使用飽和排斥矯正；

（4）將矯正后的測量數據導入計算機，利用壓縮感知方法進行還原，獲得還原結果。

3.根據權利要求1或2所述的基于壓縮感知成像系統的探測器非線性飽和矯正還原方法，其特征在于飽和排斥矯正具體處理過程為：去除與排除的測量值相對應的測量矩陣，M維的測量值中，第i個測量值y(i)所對應的測量矩陣為Φ(i,N)，當第i個測量值被去除后，相應的測量矩陣也要被去除，i為正整數。

4.根據權利要求1或2所述的基于壓縮感知成像系統的探測器非線性飽和矯正還原方法，其特征在于飽和反饋矯正具體處理過程為：根據具體的測量值，對應探測器所給的探測響應曲線，進行測量值補償，獲得補償因子，與測得的測量值相乘即得實際補償值，即假設探測器的響應因子曲線函數為y=ζ(y')，y′表示探測器探測到的響應值，y表示在y'的測量值下所對應的響應因子。則實際的探測器響應函數可以表示為：y=ζ(y')*y'，則第i個實際補償后的探測值表示為y(i)=ζ(y'(i))*y'(i)。