[發明專利]光學元件折射率的檢測方法及其檢測裝置

有效

• 申請號: 201210394056.0
• 申請日: 2012-10-17
• 公開（公告）號: CN103776801A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 周佺佺;吳志強
• 申請（專利權）人: 成都光明光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45;G01M11/02
• 代理公司: 成都希盛知識產權代理有限公司 51226
• 代理人: 蒲敏

1.光學元件折射率的檢測方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

1）在第一樣品池（4）和第二樣品池（5）中裝有相同的等量的折射液，光源（1）發出的光經過準直透鏡（2）和光縫（3）后，分別平行入射到第一樣品池（4）和第二樣品池（5）中，入射光通過第一樣品池（4）和第二樣品池（5）以及第一補償器（10）和第二補償器（11）后，經會聚透鏡（7）會聚于柱面鏡（8），在柱面鏡（8）后的觀察管（9）中看到上下兩列干涉條紋，一列由光縫（3）的上半部分兩束光干涉形成，一列由光縫（3）的下半部分兩束光干涉形成，上、下半部分的光程差不變，干涉條紋固定不動，上半部干涉條紋和下半部干涉條紋對齊；

2）將被測的光學元件放入第一樣品池（4）中，上半部干涉條紋會相對下半部干涉條紋有移動；

3）引起的光程差為：Δ=(n₂-n₁)L=K?λ

上式中：λ—光源波長；K—對應光程差的干涉級；L—被測的光學元件試樣沿光軸方向的長度；n₁—被測的光學元件的折射率；n₂—樣品池內折射液的折射率；

通過觀察干涉條紋的移動情況，計算出干涉級次，代入上式中，得到被測的光學元件的折射率值n₁。

2.如權利要求1所述的光學元件折射率的檢測方法，其特征在于，所述步驟3）為：當上半部干涉條紋相對下半部干涉條紋向上移動時，說明n₁>n₂，這時在第一樣品池（4）中加入高折射率的折射液；當上半部干涉條紋相對下半部干涉條紋向下移動時，說明n₁<n₂，這時在第一樣品池（4）中加入低折射率的折射液，慢慢滴加折射液并混勻，使第一樣品池（4）和第二樣品池（5）中的折射液均勻一致，同時觀察干涉條紋，直到上半部干涉條紋和下半部干涉條紋對齊為止，然后將樣品池內的折射液取出，測試其對應干涉波長的折射率值，即得到被測光學元件的折射率值n₁。

3.如權利要求2所述的光學元件折射率的檢測方法，其特征在于，步驟3）所述測試樣品池內的折射液對應干涉波長的折射率值是采用V棱鏡折光儀或測角儀測試。

4.如權利要求2所述的光學元件折射率的檢測方法，其特征在于，所述被測光學元件是異型光學元件。

5.如權利要求1所述的光學元件折射率的檢測方法，其特征在于，所述被測光學元件是形狀尺寸規整的方形或圓形的小型光學元件。

6.如權利要求1所述的光學元件折射率的檢測方法，其特征在于，所述將被測的光學元件放入第一樣品池（4）中是通過第一樣品池（4）上的小孔（6）將被測的光學元件放入第一樣品池（4）中。

7.權利要求1所述的光學元件折射率的檢測方法的檢測裝置，其特征在于，按光路依次為：光源（1）、準直透鏡（2）、光縫（3）、樣品池、補償器、會聚透鏡（7）、柱面鏡（8）和觀察管（9），所述樣品池包括第一樣品池（4）和第二樣品池（5），所述補償器包括第一補償器（10）和第二補償器（11）。

8.如權利要求7所述的光學元件折射率的檢測裝置，其特征在于，在所述第一樣品池（4）上開有小孔（6）。

9.如權利要求7所述的光學元件折射率的檢測裝置，其特征在于，所述第一樣品池（4）和第二樣品池（5）是連通的。