[發明專利]校正裝置與校正方法有效
| 申請號: | 201210393825.5 | 申請日: | 2012-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN103077731A | 公開(公告)日: | 2013-05-01 |
| 發明(設計)人: | 張又文;湛益淞;楊金彬;馬昌博 | 申請(專利權)人: | 聯發科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11B7/126 | 分類號: | G11B7/126 |
| 代理公司: | 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111 | 代理人: | 于淼;楊穎 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校正 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明是關于校正傳送器端(transmitter?end)所傳送至接收器端(receiver?end)的信號,特別關于一種對傳送器端所傳送至接收器端的信號執行相位偵測/邊緣距離偵測(edge?distance?detection)的校正裝置以及相關校正方法。
背景技術
對于一些應用來說,傳送器芯片會透過多個傳輸線與接收器芯片通信,因此,傳送器芯片會同時傳送多路信號,以將控制信息或數據信息傳送給接收器芯片。以光學存儲裝置為例,控制器芯片可以透過控制器芯片與光學選取單元(optical?pick-up?unit,OPU)之間的多個頻道,來產生多個寫入使能(write?enable,WEN)信號以控制設置在光學讀取單元上的雷射二極管的雷射功率,其中進行雷射功率控制的格雷碼(gray?code)具有多個比特,其由所傳送的多個寫入使能信號所同時且分別傳送。然而,假如控制器芯片本身、光學讀取單元本身及/或控制器芯片與光學選取單元之間的界面存在不理想的效應(non-ideal?effect),則一個或多個寫入使能信號可能會失真(distorted)。舉例來說,寫入使能信號之間的錯位(misalignment)會致使所傳送的格雷碼在光學選取單元處錯誤解碼,因而造成雷射二極管錯誤的功率控制。
所以,需要一種可以校正多路信號源以對所傳送信號中不理想效應所造成的失真進行補償的創新的信號校正設計。
發明內容
有鑒于此,本發明提出一種校正裝置以及相關的校正方法。
依據本發明第一實施方式,提供一種校正裝置。校正裝置包含了偵測電路與校正電路。偵測電路通過偵測多路信號源所產生的多路信號的邊緣之間的關系來產生偵測結果,其中該多個邊緣中至少一個是負緣。校正電路耦接至偵測電路,并依據偵測結果來校正該多路信號源中至少一路信號源。
依據本發明第二實施方式,提供一種校正方法。該校正方法包含下述步驟:通過偵測多路信號源所產生的多路信號的邊緣之間的關系來產生偵測結果,其中該多個邊緣中至少一個是負緣;并依據偵測結果來校正該多路信號源中至少一路信號源。
依據本發明第三實施方式,提供一種校正裝置。該校正裝置包含了邊緣距離偵測器與校正電路。邊緣距離偵測器偵測第一信號源所產生的第一信號的第一邊緣與第二信號源所產生的第二信號的第二邊緣之間的距離。校正電路耦接至邊緣偵測器,并依據邊緣距離偵測器所偵測的距離,來校正至少一路信號源。
本發明所提供的校正裝置以及相關的校正方法可以校正信號源以對所傳送信號中不理想效應所造成的失真進行補償。
附圖說明
圖1為依據本發明的第一示范性實施方式的使用校正裝置的電子裝置的示意圖。
圖2為本發明相位偵測器的示范性實現的示意圖。
圖3A為在第二信號校正之前使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的正緣與第二信號的正緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖3B為在第二信號校正之后使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的正緣與第二信號的正緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖3C為在調整過的第二信號再次校正之后使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的正緣與第二信號的正緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖4A為在第二信號校正之前使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的正緣與第二信號的負緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖4B為在第二信號校正之后使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的正緣與第二信號的負緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖4C為在調整過的第二信號再次校正之后使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的正緣與第二信號的負緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖5A為在第二信號校正之前使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的負緣與第二信號的正緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖5B為在第二信號校正之后使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的負緣與第二信號的正緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖5C為在調整過的第二信號再次校正之后使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的負緣與第二信號的正緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
圖6A為在第二信號校正之前使用圖2所示的相位偵測器來偵測第一信號的負緣與第二信號的負緣之間的領先/落后關系的操作的示意圖。
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