[發明專利]一種光纖復合架空相線接頭盒電暈試驗裝置及其試驗方法

有效

• 申請號: 201210393054.X
• 申請日: 2012-10-16
• 公開（公告）號: CN102998601A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 戚力彥
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京安博達知識產權代理有限公司 11271
• 代理人: 徐國文

技術領域

本發明涉及電力系統通信技術領域，具體涉及一種光纖復合架空相線接頭盒電暈試驗裝置及其試驗方法。

背景技術

光纖復合架空相線是一種新型的電力特種光纜，具備導線和通信光纜的功能，在我國電力領域10kV、35kV、110kV及220kV等電壓等級輸電線路中已經有了探索性的應用，目前已開始了500kV電壓等級OPPC及接頭盒的研究與試驗段建設。

光纖復合架空相線接頭盒是OPPC線路工程應用中不可或缺的一個裝置，其對應的性能檢測技術是一項新技術。此次提出的光纖復合架空相線接頭盒電暈試驗方法用于進行光纖復合架空相線接頭盒的電暈試驗，考察工作電壓等級為330kV及以上的光纖復合架空相線接頭盒在規定的電壓下是否有電暈產生，確保330kV及以上電壓等級實際工程的安全穩定運行。

發明內容

本發明的目的是為了解決OPPC工程應用存在的問題，提供一種光纖復合架空相線接頭盒電暈試驗裝置及其試驗方法，該裝置及其方法可以在實驗室模擬測試330kV及以上電壓等級光纖復合架空相線OPPC運行線路中的光纖復合架空相線接頭盒在規定的電壓下的電暈性能。

本發明的目的是采用下述技術方案實現的：

一種光纖復合架空相線接頭盒電暈試驗裝置，其改進之處在于，所述試驗裝置包括接頭盒①、試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④、試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤、電壓源、光纖衰減監測儀⑦和紫外成像儀；

所述電壓源的高壓正電極③通過加電壓線路②與接頭盒①上盒體連接；所述電壓源的高壓負電極接地；所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④一端與接頭盒①上盒體連接，另一端通過尾纖與光纖衰減監測儀⑦連接；所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤一端與接頭盒①下盒體連接，另一端通過尾纖⑥與光纖衰減監測儀⑦連接；所述紫外成像儀在白天非黑條件下用于觀察電暈試驗過程中接頭盒①上電暈的產生與消失。

其中，所述電壓源包括高電壓正電極③和高電壓負電極。

其中，所述接頭盒①下盒體接地。

其中，所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④與接頭盒①上盒體連接；所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤與接頭盒①下盒體連接，其中的光纖與盒體中相熔接的預埋尾纖為光纖復合架空相線OPPC接頭盒內部有預埋尾纖。

其中，所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④包括光單元；所述光單元包括光纖；所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤包括光單元；所述光單元包括光纖。

本發明基于另一目的提供的一種光纖復合架空相線接頭盒電暈試驗方法，其改進之處在于，所述試驗方法針對工作電壓等級為330kV及以上的接頭盒產品進行，包括下述步驟：

（1）所述接頭盒①盒體內部光纖接續盤放；

（2）所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④接續；

（3）所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤接續；

（4）所述接頭盒①盒體密封；

（5）配置所述光纖衰減監測儀⑦；

（6）配置所述紫外成像儀；

（7）確定接頭盒①的電暈起始電壓和電暈熄滅電壓。

其中，所述步驟（1）中，所述光纖復合架空相線OPPC接頭盒①內部有預埋尾纖，試驗前將預埋尾纖的多芯光纖與試驗輔助延長光纜光單元內部光纖串接，使串接的光纖總長度大于500米。

其中，所述接頭盒①上盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④光單元內部光纖串接；所述接頭盒①下盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜光單元內部光纖串接。

其中，所述光纖總長度為接頭盒①上盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④光單元內部光纖串接的光纖長度加上接頭盒①下盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜光單元內部光纖串接的光纖長度。

其中，經過接續的預埋光纖及光纖接頭放置于接頭盒①盒體內部，將熔接時經過熱縮管保護的光纖接頭（接頭指的是光纜中的光纖與預埋尾纖中的光纖熔接在一起的熔接點）固定，且余留光纖盤放的曲率半徑不小于30mm。

其中，所述步驟（2）中，將所述接頭盒①上盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④光單元內部光纖串接。

其中，所述步驟（3）中，將所述接頭盒①下盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜光單元內部光纖串接。