[發明專利]光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置及試驗方法

有效

• 申請號: 201210392892.5
• 申請日: 2012-10-16
• 公開（公告）號: CN102928746A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 戚力彥
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 北京安博達知識產權代理有限公司 11271
• 代理人: 徐國文

1.一種光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置，其特征在于，所述試驗裝置包括接頭盒①、試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④、試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤、電壓源、光纖衰減監測儀⑦和人工雨噴灑裝置⑧；

所述電壓源的高壓正電極③通過加電壓線路②與接頭盒①上盒體連接；所述電壓源的高壓負電極接地；所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④一端與接頭盒①上盒體連接，另一端通過尾纖與光纖衰減監測儀⑦連接；所述人工雨噴灑裝置⑧的噴水閥安裝在高于接頭盒①的地方，用于將所述接頭盒①從上盒體至下盒體全部淋濕；所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤一端與接頭盒①下盒體連接，另一端通過尾纖⑥與光纖衰減監測儀⑦連接。

2.如權利要求1所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置，其特征在于，所述人工雨噴灑裝置⑧包括噴水閥和出水管道，所述噴水閥的安裝在高于接頭盒①的地方，用于將所述接頭盒①淋濕；所述出水管道一端與噴水閥連接，另一端與盛水容器連接。

3.如權利要求1所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置，其特征在于，所述電壓源包括高電壓正電極③和高電壓負電極。

4.如權利要求1所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置，其特征在于，所述接頭盒①下盒體接地。

5.如權利要求1所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置，其特征在于，所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④與接頭盒①上盒體連接；所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤與接頭盒①下盒體連接，其中的光纖與盒體中相熔接的預埋尾纖為光纖復合架空相線OPPC接頭盒內部有預埋尾纖。

6.如權利要求1所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗裝置，其特征在于，所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④包括光單元；所述光單元包括光纖；所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤包括光單元；所述光單元包括光纖。

7.一種光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗方法，其特征在于，所述試驗方法在試驗時，接頭盒承受工作電壓等級相應的工頻1min濕耐受電壓試驗，在試驗過程中，接頭盒①無擊穿和閃絡，包括下述步驟：

（1）所述接頭盒①盒體內部光纖接續盤放；

（2）所述試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④接續；

（3）所述試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜⑤接續；

（4）所述接頭盒①盒體密封；

（5）配置所述光纖衰減監測儀⑦；

（6）開啟人工雨噴灑裝置⑧的噴水閥，朝所述接頭盒①預噴水15分鐘，將所述接頭盒①用水淋濕；

（7）對所述接頭盒①進行工頻1min濕耐受電壓試驗。

8.如權利要求7所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗方法，其特征在于，所述步驟（1）中，所述光纖復合架空相線OPPC接頭盒①內部有預埋尾纖，試驗前將預埋尾纖的多芯光纖與試驗輔助延長光纜光單元內部光纖串接，使串接的光纖總長度大于500米。

9.如權利要求8所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗方法，其特征在于，所述接頭盒①上盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④光單元內部光纖串接；所述接頭盒①下盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜光單元內部光纖串接。

10.如權利要求8所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗方法，其特征在于，所述光纖總長度為接頭盒①上盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④光單元內部光纖串接的光纖長度加上接頭盒①下盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長全介質自承式ADSS光纜光單元內部光纖串接的光纖長度。

11.如權利要求10所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗方法，其特征在于，經過接續的預埋光纖及光纖接頭放置于接頭盒①盒體內部，將熔接時經過熱縮管保護的光纖接頭固定，且余留光纖盤放的曲率半徑不小于30mm。

12.如權利要求7所述的光纖復合架空相線接頭盒濕耐受電壓試驗方法，其特征在于，所述步驟（2）中，將所述接頭盒①上盒體中的預埋尾纖與試驗輔助延長光纖復合架空相線OPPC光纜④光單元內部光纖串接。