[發明專利]抗輻射電平移位

在審

• 申請號: 201210392625.8
• 申請日: 2012-08-20
• 公開（公告）號: CN102957419A
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發明（設計）人: C·帕克斯特;M·哈姆林
• 申請（專利權）人: 德克薩斯儀器股份有限公司
• 主分類號: H03K19/0185
• 分類號: H03K19/0185
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 趙蓉民

1.一種裝置，其包括：

第一電路，其被配置為操作在第一電壓域中；

第二電路，其被配置為操作在不同于所述第一電壓域的第二電壓域中；

多個電平移位器，其耦合于所述第一電路，所述多個電平移位器中的每一個被配置為接收來自所述第一電路的在所述第一電壓域中的數據信號，并且在所述第二電壓域中產生轉換的數據信號，其中轉換的數據信號中的至少一個不同于轉換的數據信號中的另一個；以及

邏輯電路，其耦合于所述多個電平移位器，所述邏輯電路被配置為接收來自所述多個電平移位器的轉換的數據信號，基于選定數量的轉換的數據信號確定輸出信號，并且提供所述輸出信號給所述第二電壓域中的第二電路。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述多個電平移位器包括第一電平移位器、第二電平移位器以及第三電平移位器，并且其中所述選定數量的轉換的數據信號包括兩個或更多個轉換的數據信號。

3.根據權利要求2所述的裝置，其中所述邏輯電路進一步包括第一與門、第二與門、第三與門以及或門，所述或門耦合于：所述第一與門的輸出、所述第二與門的輸出以及所述第三與門的輸出。

4.根據權利要求3所述的裝置，其中所述第一電平移位器的輸出耦合于所述第一與門的第一輸入并且耦合于所述第二與門的第一輸入，所述第二電平移位器的輸出耦合于所述第一與門的第二輸入并且耦合于所述第三與門的第一輸入，所述第三電平移位器的輸出耦合于所述第二與門的第二輸入并且耦合于所述第三與門的第二輸入。

5.根據權利要求2所述的裝置，其中所述邏輯電路進一步包括第一與門和第二與門。

6.根據權利要求5所述的裝置，其中所述第一電平移位器的輸出耦合于所述第一與門的第一輸入，所述第二電平移位器的輸出耦合于所述第一與門的第二輸入，所述第一與門的輸出耦合于所述第二與門的第一輸入，所述第三電平移位器的輸出耦合于所述第二與門的第二輸入。

7.根據權利要求1所述的裝置，其中所述多個電平移位器中的至少一個電平移位器相對于所述多個電平移位器中的至少兩個其他電平移位器以非線性方式物理布置。

8.根據權利要求1所述的裝置，其中所述邏輯電路包括可編程電路。

9.根據權利要求8所述的裝置，其中所述可編程電路被配置為分配第一權重給轉換的數據信號中的第一個并且分配第二權重給轉換的數據信號中的第二個，其中所述第一權重不同于所述第二權重。

10.根據權利要求8所述的裝置，其中所述可編程電路可選擇地操作在多數表決模式或全票表決模式中。

11.一種集成電路，其包括：

多個電平移位器，所述多個電平移位器中的每一個被配置為接收第一電壓域中的相同邏輯電平并輸出第二電壓域中的候選邏輯電平，所述候選邏輯電平中的至少一個面臨不同于所述候選邏輯電平中的另一個；以及

表決電路，其耦合于所述多個電平移位器，所述表決電路被配置為評估所述候選邏輯電平并至少部分基于該評估而輸出選定的邏輯電平。

12.根據權利要求11所述的集成電路，其中所述多個電平移位器檢測器中的至少一個相對于所述多個電平移位器中的兩個或更多個以非線性方式布置在所述集成電路內。

13.根據權利要求12所述的集成電路，其中至少部分由于暴露于離子化輻射，所述候選邏輯電平中的所述至少一個被接收錯誤。

14.根據權利要求11所述的集成電路，其中所述多個電平移位器包括第一電平移位器、第二電平移位器以及第三電平移位器，其中所述表決電路進一步包括第一與門、第二與門、第三與門以及或門，所述或門耦合于所述第一與門的輸出、所述第二與門的輸出以及所述第三與門的輸出。

15.根據權利要求14所述的集成電路，其中所述第一電平移位器的輸出耦合于所述第一與門的第一輸入并且耦合于所述第二與門的第一輸入，所述第二電平移位器的輸出耦合于所述第一與門的第二輸入并且耦合于所述第三與門的第一輸入，所述第三電平移位器的輸出耦合于所述第二與門的第二輸入并且耦合于所述第三與門的第二輸入。

16.根據權利要求11所述的集成電路，其中所述多個電平移位器包括第一電平移位器、第二電平移位器以及第三電平移位器，其中所述表決電路包括第一與門和第二與門。