[發明專利]低溫校準儀和方法

無效

• 申請號: 201210391752.6
• 申請日: 2012-10-15
• 公開（公告）號: CN103048030A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 唐納德·M·戴;德魯·S·韋弗
• 申請（專利權）人: 丹尼爾測量和控制公司
• 主分類號: G01F25/00
• 分類號: G01F25/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李春暉;王娜麗

1.一種流量計校準儀，包括：

被配置為接收流體流的入口；

被配置為輸出流體流的出口；

具有第一端部和第二端部的流量管，其中：

所述流量管與所述入口流體連通并位于所述入口的下游；以及

所述流量管與所述出口流體連通并位于所述出口的上游；

放置于所述流量管內的置換器；以及

與所述入口流體連通并位于所述入口的下游的旁路閥，其中，所述旁路閥具有開放位置和閉合位置，所述開放位置被配置為在所述入口和所述置換器的下游側之間產生流體連通，而所述閉合位置被配置為將所述置換器從所述流量管的所述第一端部移動到所述流量管的所述第二端部。

2.根據權利要求1所述的流量計校準儀，還包括：

與所述入口和所述流量管流體連通的入口閥；以及

與所述出口和所述流量管流體連通的出口閥；

其中，所述入口閥和所述出口閥能被開動以啟動校準過程。

3.根據權利要求1所述的流量計校準儀，還包括與所述入口和所述出口流體連通的四向閥。

4.根據權利要求1所述的流量計校準儀，還包括與所述入口流體連通并位于所述入口的下游的第二旁路閥，其中所述第二旁路閥具有開放位置和閉合位置，所述開放位置被配置為在所述入口和所述置換器的下游側之間產生流體連通，而所述閉合位置被配置為將所述置換器從所述流量管的所述第二端部移動到所述流量管的所述第一端部。

5.根據權利要求2所述的流量計校準儀，其中，所述旁路閥被配置為在所述入口閥和所述出口閥的循環時間期間將所述流體流引導到所述置換器的下游。

6.根據權利要求5所述的流量計校準儀，其中，所述旁路閥被配置為當已經過了所述入口閥和所述出口閥的循環時間時將所述流體流從所述入口引導至所述置換器。

7.根據權利要求4所述的流量計校準儀，還包括：

與所述入口和所述流量管流體連通的第一入口閥和第二入口閥；以及

與所述出口和所述流量管流體連通的第一出口閥和第二出口閥；

其中，所述第一入口閥、所述第二入口閥、所述第一出口閥和所述第二出口閥能被開動以啟動校準過程。

8.根據權利要求4所述的流量計校準儀，還包括與所述入口和所述出口流體連通的四向閥。

9.一種流量計校準儀，包括：

被配置為引入流體流的入口閥；

被配置為輸出流體流的出口閥；

具有第一端部和第二端部的流量管，其中：

所述流量管與所述入口閥流體連通并位于所述入口閥的下游；以及

所述流量管與所述出口閥流體連通并位于所述出口閥的上游；

放置在所述流量管內的置換器；

與所述入口閥、旁路流量通道和出口閥流體連通的旁路閥；

其中，所述旁路閥被配置為在所述入口閥和所述出口閥的循環時間期間將來自所述入口閥的流體流引導通過所述置換器并引導到所述出口閥。

10.一種流量計校準方法，包括：

使流體流過校準儀的流體入口；

將所述流體引導通過開放的旁路閥并引導到放置在流量管內的置換器的下游，并引導通過流體出口；

閉合所述旁路閥以將所述流體流重新引導到所述置換器；以及

響應于所述旁路閥的閉合而在所述流量管中移動所述置換器。

11.根據權利要求10所述的方法，其中，在所述入口閥和所述出口閥的循環時間期間將所述流體流引導通過所述開放的旁路閥。

12.根據權利要求10所述的方法，還包括：

在使所述流體流過所述校準儀的所述流體入口之后，閉合第一入口閥和第一出口閥；以及

在閉合所述第一入口閥和所述第一出口閥之后閉合所述旁路閥。

13.根據權利要求10所述的方法，在所述置換器已經移動通過所述流量管之后，還包括：

啟動第二校準過程；

開放第一入口閥、第一出口閥和旁路閥；

閉合第二入口閥和第二出口閥；以及

在閉合所述第二入口閥和所述第二出口閥的同時，引導流體流通過開放的旁路閥和所述流量管內的所述置換器的下游，并引導通過所述第一出口閥。