[發明專利]一種固定齒偏差補償方法及其系統有效
| 申請號: | 201210391469.3 | 申請日: | 2012-10-16 |
| 公開(公告)號: | CN102901834A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發明(設計)人: | 張力沖;汪博;劉寒冰;白曉亮;鐘維峰;王兆申 | 申請(專利權)人: | 長春迪瑞醫療科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N35/02 | 分類號: | G01N35/02 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268 | 代理人: | 楊宏 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 固定 偏差 補償 方法 及其 系統 | ||
技術領域
本發明涉及用于全自動生化分析儀承載比色杯的反應盤,尤其涉及一種固定齒偏差的補償方法及其系統。
背景技術
全自動生化分析儀是根據光電比色原理來測量體液中某種特定化學成分的儀器。由于其測量速度快、準確性高、消耗試劑量小,現已在各級醫院、防疫站、計劃生育服務站得到廣泛使用。但由于反應盤的定位齒機械加工存在固有偏差,例如反應盤轉動一個固定齒時,控制步進電機轉動的理論步數為N步,但由于機械加工存在誤差,導致位置光耦檢測到固定齒信號時所轉動的步數為M步,從而產生了(N-M)步的誤差,使反應盤停止定位時存在一定誤差,進而影響加樣、加試劑及攪拌的位置,一定程度上限制了儀器的性能,降低了其測量效率。
因此,現有技術還有待于改進和發展。
發明內容
鑒于上述現有技術的不足,本發明的目的在于提供一種固定齒偏差補償方法及其系統,以提高反應盤的定位精度,提高全自動生化分析儀的測量效率。
本發明的技術方案如下:
一種固定齒偏差的補償方法,其包括以下步驟:
A、掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄,選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒,以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差,按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤。
所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述步驟A具體的包括:A1、所述全自動生化儀上電后,反應盤控制板掃描所述反應盤的所有齒數與齒寬,并將所述齒數與齒寬記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。
所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述步驟A1具體的包括:所述反應盤控制板按測試方向勻速旋轉進行掃描,每個齒從低電平到高電平,齒計數的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。
所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述步驟A具體的包括:
A2、所述基準齒的齒計數為一,剩余齒的齒計數按照離所述基準齒的距離依次加一;所述偏差等于對應齒之齒計數減一乘以齒寬,然后再減去所述全自動生化儀電機步數。
所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述步驟A2具體的包括:將所有齒的偏差記錄在所述全自動生化儀的隨機存儲器內。
所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述步驟A具體的包括:
A3、啟動電機將所述全自動生化儀預計將所述反應盤轉到某一齒處;
A4、檢測所述某一齒的齒計數,然后按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和確定執行步數;
A5、所述電機減速執行所述執行步數直至停止。
所述的固定齒偏差補償方法,其中,所述齒寬為齒的寬度與齒縫的寬度。
一種固定齒偏差補償系統,其包括用于控制電機運行的控制單元,其中,所述固定齒偏差補償系統還包括用于記錄齒數、齒寬與偏差的隨機存儲器以及用于根據全自動生化儀電機步數與所述偏差執行反應盤轉動步數的執行單元,所述隨機存儲器與所述執行單元均與所述控制單元通信連接。
本發明提供的一種固定齒偏差補償方法及其系統,采用先掃描反應盤選定一個基準齒,然后根據該基準齒確定每個齒與基準齒的偏差,最后根據全自動生化儀電機步數與所述偏差的和來轉動反應盤,消除了定位齒機械加工過程中存在固有偏差的缺陷,提高了反應盤的定位精度,從而使反應盤上的比色杯能準確的到達指定位置,提高了全自動生化分析儀的測量效率。
附圖說明
圖1為本發明中固定齒偏差補償方法的流程示意圖;
圖2為本發明中反應盤轉動時的流程結構示意圖;
圖3為本發明中掃描齒與基準齒之偏差的流程示意圖;
圖4為本發明中實施例一的具體流程示意圖;
圖5為本發明中固定齒偏差補償方法的具體流程示意圖;
圖6為本發明中固定齒偏差補償系統的結構示意圖。
具體實施方式
本發明提供一種固定齒偏差補償方法及其系統,為使本發明的目的、技術方案及效果更加清楚、明確,以下對本發明進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明,并不用于限定本發明。
本發明提供了一種固定齒偏差的補償方法,如圖1所示的,其包括以下步驟:
步驟101:掃描所述全自動生化儀反應盤的齒數與齒寬并記錄,選取所述全自動生化儀反應盤的任意齒為基準齒,以所述基準齒為基準位置計算每個齒與所述基準齒的偏差,按照所述全自動生化儀電機步數與所述偏差的和轉動所述反應盤。
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