[發(fā)明專利]一種治具

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210390868.8
• 申請日: 2012-10-16
• 公開（公告）號: CN102853859A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 殷仁偉
• 申請（專利權(quán)）人: 昆山碩華模具板有限公司
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種治具。

背景技術(shù)

在對半成品或者成品小型元件進(jìn)行質(zhì)量檢測或者測量時(shí)，通常是將多個(gè)待測物品放置于檢測或者測量平臺上，例如：放置于工具顯微鏡的檢測平臺、或者預(yù)定的某一平臺上，然后逐一對其進(jìn)行檢測。

然而，在某些情況下，會(huì)遇到如圓柱狀的工件，需要將該待檢測物品擺放于待測平臺上，以利于后面的檢測或者測量方便。通常的做法是由工作人員來將其整齊擺放于待測平臺上，具體的做法或者是采用人工的方法，由工作人員手動(dòng)來擺放，又或者是采用某些機(jī)械裝置，例如機(jī)械手來自動(dòng)抓取待測物品，并將其等間隔擺放于待測平臺上。

上述兩種方式都存在一定的缺點(diǎn)，第一種方式，采用人工擺放，其存在一定誤差，即由于工作人員的個(gè)體差異，無法達(dá)到每次都可以精確擺放；而第二種方式雖然可以精確擺放位置，但其成本較高，不適合推廣。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明目的是提供一種治具，使用該治具，可準(zhǔn)確的擺放待測物。

本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種治具，包括一治具本體，所述本體由底座構(gòu)成，所述底座上兩側(cè)分別設(shè)有治具機(jī)構(gòu)，所述底座中部開設(shè)有工件擺放孔。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述治具機(jī)構(gòu)包括一治具座，所述治具座上鉸接有治具頭，與所述治具頭還鉸接有治具握柄。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述治具頭朝向所述工件擺放孔方向設(shè)置且設(shè)置于所述工件擺放孔上方，所述治具握柄反向所述治具頭方向設(shè)置。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述治具握柄外部套設(shè)有防滑套。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是：

1．本發(fā)明通過在底座上兩側(cè)分別對稱設(shè)置治具機(jī)構(gòu)，底座中部開設(shè)有工件擺放孔，待測物放置于工件擺放孔內(nèi)，再由治具機(jī)構(gòu)進(jìn)行夾持，從而可以準(zhǔn)確的擺放待測工件；

2．本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，且易于實(shí)現(xiàn)，適合推廣使用。

附圖說明

下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步描述：

圖1為本發(fā)明實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。

其中：1、底座；2、工件擺放孔；3、治具頭；4、治具握柄；5、防滑套；6、治具座。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例一：參見圖1所示，一種治具，包括一治具本體，所述本體由底座1構(gòu)成，所述底座1上兩側(cè)分別設(shè)有治具機(jī)構(gòu)，所述底座中部開設(shè)有工件擺放孔2，所述治具機(jī)構(gòu)包括一治具座6，所述治具座6上鉸接有治具頭3，與所述治具頭3還鉸接有治具握柄4，所述治具頭3朝向所述工件擺放孔2方向設(shè)置且設(shè)置于所述工件擺放孔上方，所述治具握柄4反向所述治具頭3方向設(shè)置，所述治具握柄4外部套設(shè)有防滑套5。

治具在使用時(shí)，圓柱形待測物擺放在底座上的工件擺放孔內(nèi)，然后操作人員向下扳動(dòng)治具握柄，由于治具握柄與治具頭鉸接，治具握柄下降的同時(shí)帶動(dòng)治具頭向下夾持住工件擺放孔上的待測物，從而可以準(zhǔn)確的擺放待測物，等到測量結(jié)束后，向上提起治具握柄，帶動(dòng)治具頭向上松開待測物，可將物品取出。

上述實(shí)施例只為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本發(fā)明主要技術(shù)方案的精神實(shí)質(zhì)所做的修飾，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。