[發明專利]基于電子天平的硅片自動計片方法

有效

• 申請號: 201210388619.5
• 申請日: 2012-10-12
• 公開（公告）號: CN103033246A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 孫新利
• 申請（專利權）人: 孫新利
• 主分類號: G01G19/42
• 分類號: G01G19/42
• 代理公司: 杭州華鼎知識產權代理事務所(普通合伙) 33217
• 代理人: 竺詩忍

1.基于電子天平的硅片自動計片方法，該電子天平包括輸入及顯示面板（5），電子天平內設有內部信號處理裝置（10），其特征在于：?

所述輸入及顯示面板（5）上設有數值輸入裝置（13）、硅片厚度選擇及顯示裝置（14）、硅片規格選擇裝置（17），硅片尺寸選擇裝置（15），計量結果顯示裝置（11），所述內部信號處理裝置（10）包括稱重裝置，硅片面積計算裝置、硅片體積計算裝置、硅片片數計算裝置；?

該電子天平的硅片自動計片方法包括如下步驟：首先，在數值輸入裝置（13）、硅片厚度選擇及顯示裝置（14）、硅片規格選擇裝置（17），硅片尺寸選擇裝置（15）上對需要稱重的硅片做出選擇，其次，所述內部信號處理裝置依靠稱重裝置、硅片面積計算裝置、硅片體積計算裝置、硅片片數計算裝置進行處理并計算出硅片片數最后在計量結果顯示裝置上顯示。?

2.根據權利要求1所述的硅片自動計片方法，其特征在于：所述計量結果顯示裝置（11）上設有“重量”顯示面板、“片數”顯示面板、“累計片數”顯示面板及“累計次數”顯示面板。?

3.根據權利要求2所述的硅片自動計片方法，其特征在于：所述硅片厚度選擇及顯示裝置設有“厚度上線”按鍵、“厚度下線”按鍵、“單次最大數”按鍵，并且對應“厚度上線”按鍵、“厚度下線”按鍵、“單次最大數”按鍵分別設有顯示面板。?

4.根據權利要求3所述的硅片自動計片方法，其特征在于：所述硅片規格選擇裝置包括“圓片”按鍵、“單參考面”按鍵、“雙參考面”按鍵及“方片”按鍵。?

5.根據權利要求4所述的硅片自動計片方法，其特征在于：所述硅片尺寸選擇裝置包括“3寸”按鍵、“4寸”按鍵、“5寸”按鍵、“6寸”按鍵。?

6.根據權利要求5所述的硅片自動計片方法，其特征在于：所述內部信號處理裝置（10）還設有單次最大計數計算裝置，所述單次最大計數計算裝置根據選?擇的硅片厚度計算出單次最大計數值并判斷是否超過該單次最大計數值，如果超出該單次最大計數值，“單次最大數”按鍵對應的顯示面板則會顯示“超出”。?

7.根據權利要求6所述的硅片自動計片方法，其特征在于：所述內部信號處理裝置（10）還包括了一個累計片數統計裝置，該累計片數統計裝置記錄單次計數值并相加最后將結果在計量結果顯示裝置（11）上的“累計片數”顯示面板及“累計次數”顯示面板上顯示，所述“累計”按鍵及“停止累計”按鍵用于單次計數及累計計數之間的切換，如果選擇所述“累計”按鍵，則所述累計片數統計裝置工作，可以進行多次稱重計數并將結果在““累計片數”顯示面板及“累計次數”顯示面板上顯示，如果選擇“停止累計”按鍵，則所述累計片數統計裝置停止工作，可以進行單次稱重計數。?