[發明專利]一種專用治具

無效

• 申請號: 201210388156.2
• 申請日: 2012-10-15
• 公開（公告）號: CN102889904A
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 章毅
• 申請（專利權）人: 昆山長泰鋼品有限公司
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種專用治具。

背景技術

在對半成品或者成品小型元件進行質量檢測或者測量時，通常是將多個待測物品放置于檢測或者測量平臺上，例如：放置于工具顯微鏡的檢測平臺、或者預定的某一平臺上，然后逐一對其進行檢測。

然而，在某些情況下，需要將該待檢測物品整齊并且有序并排擺放于待測平臺上，以利于后面的檢測或者測量方便。通常的做法是由工作人員來將其整齊擺放于待測平臺上，具體的做法或者是采用人工的方法，由工作人員手動來擺放使其達到一定的對其效果，又或者是采用某些機械裝置，例如機械手來自動抓取待測物品，并將其等間隔擺放于待測平臺上。

上述兩種方式都存在一定的缺點，第一種方式，采用人工擺放，其存在一定誤差，即由于工作人員的個體差異，無法達到每次都可以精確控制其擺放位置相同；而第二種方式雖然可以精確控制其擺放位置相同，但其成本較高，不適合推廣。

發明內容

本發明目的是提供一種專用治具，使用該治具，可方便的同時將待測物整齊擺放。

本發明的技術方案是：一種專用治具，包括一治具本體，所述本體由底座構成，所述底座上一側分別設有兩個治具機構，所述底座上另一側對稱設有治具機構，所述治具機構之間設有定位塊。

進一步的技術方案，所述治具機構包括一治具座，所述治具座上鉸接有治具頭，與所述治具頭還鉸接有治具握柄。

進一步的技術方案，所述治具頭朝向所述定位塊方向設置且設置于所述定位塊上方，所述治具握柄反向所述治具頭方向設置。

進一步的技術方案，所述治具握柄外部套設有防滑套。

本發明的優點是：

1．本發明通過在底座上兩側分別對稱設置兩個治具機構，治具機構之間設置定位塊，兩個待測物放置于定位塊上，再由治具機構進行夾持，從而可以方便的同時將待測物擺放整齊；

2．本發明結構簡單，使用方便，且易于實現，適合推廣使用。

附圖說明

下面結合附圖及實施例對本發明作進一步描述：

圖1為本發明實施例一的結構示意圖。

其中：1、底座；2、定位塊；3、治具頭；4、治具握柄；5、防滑套；6、治具座。

具體實施方式

實施例一：參見圖1所示，一種專用治具，包括一治具本體，所述本體由底座1構成，所述底座1上一側分別設有兩個治具機構，所述底座上另一側對稱設有治具機構，所述治具機構之間設有定位塊2；所述治具機構包括一治具座6，所述治具座6上鉸接有治具頭3，與所述治具頭3還鉸接有治具握柄4；所述治具頭3朝向所述定位塊2方向設置且設置于所述定位塊上方，所述治具握柄4反向所述治具頭方向設置，所述治具握柄4外部套設有防滑套5。

治具在使用時，兩個待測物分別擺放在底座上的定位塊上，然后操作人員向下扳動治具握柄，由于治具握柄與治具頭鉸接，治具握柄下降的同時帶動治具頭向下夾持住定位塊上的待測物，實現了同時將待測物擺放整齊，等到測量結束后，向上提起治具握柄，帶動治具頭向上松開物品，可將物品取出。

上述實施例只為說明本發明的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人能夠了解本發明的內容并據以實施，并不能以此限制本發明的保護范圍。凡根據本發明主要技術方案的精神實質所做的修飾，都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。