[發明專利]基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置及使用方法

有效

• 申請號: 201210387221.X
• 申請日: 2012-10-09
• 公開（公告）號: CN102865930A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 郝曉劍;潘保武;郝麗娜;王艷紅;周漢昌;閆白
• 申請（專利權）人: 中北大學
• 主分類號: G01J5/60
• 分類號: G01J5/60;G01N21/71
• 代理公司: 北京太兆天元知識產權代理有限責任公司 11108
• 代理人: 傅權;符麗霞

1.一種基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置，該裝置包括有：金屬殼體及其內的藍寶石窗、物鏡、場鏡、二象限探測器、調理電路、接口電路，采用圓柱形金屬殼可由外接支架固定，特征在于：所述的二象限探測器是探測鎂及鎂合金燃點溫度光譜波長的二象限探測器，該二象限探測器設置在場鏡之后，二象限探測器的輸出端與其后的調理電路的輸入端聯接，調理電路的輸出端與接口電路輸入端聯接，接口電路備外接計算機系統。

2.根據權利要求1所述的基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置，特征在于：所述的二象限探測器的結構是：在基板左半部上下設置并聯的兩光敏二極管構成左象限光敏面，在基板右半部上下設置并聯的兩光敏二極管構成右象限光敏面，并在相鄰的左右兩個象限光敏面上各自膠合波長不同的窄帶干涉濾光片，其中：用波長為480～680nm的窄帶干涉濾光片覆蓋左象限光敏面，用波長為680～900nm的窄帶干涉濾光片覆蓋右象限光敏面，該兩片濾光片的拼接縫須對準兩光敏面的相鄰槽。

3.根據權利要求1或2所述的基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置的使用方法，特征在于：所述的基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置的使用方法首先是采用標準測溫計量儀器用于對基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置作靜態標定。

4.根據權利要求3所述的基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置使用方法，特征在于：所述的基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置使用方法其次是采用標準測溫儀器—校準后的紅外測溫儀、或中溫黑體爐，用來與基于比色法的鎂及鎂合金燃點溫度的測試裝置共同測試待測目標的溫度并作比較。