[發(fā)明專利]用于水蜜桃褐腐病缺陷檢測(cè)的特征角余弦值方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210386636.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-10-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102890092A | 公開(公告)日: | 2013-01-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 饒秀勤;陳思;應(yīng)義斌;張若宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 林懷禹 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 水蜜桃 褐腐病 缺陷 檢測(cè) 特征 余弦 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及水果缺陷檢測(cè)方法,尤其是涉及一種用于水蜜桃褐腐病缺陷檢測(cè)的特征角余弦值方法。
背景技術(shù)
水蜜桃不耐貯運(yùn),貯運(yùn)過程中極易發(fā)生各種機(jī)械損傷和病菌侵染,導(dǎo)致果實(shí)腐敗,給果農(nóng)和消費(fèi)者造成經(jīng)濟(jì)損失。不論是鮮食桃、罐頭桃還是果汁桃,在進(jìn)入市場(chǎng)和加工前都要進(jìn)行挑選和分級(jí)。因此,水蜜桃缺陷無損檢測(cè)是有必要的。
由于水蜜桃表面顏色有底色和著色之分,使得利用RGB彩色機(jī)器視覺系統(tǒng)檢測(cè)水蜜桃缺陷的難度加大,而高光譜圖像技術(shù)所檢測(cè)到的樣本信息融合了圖像信息和光譜信息,它可以全面的反應(yīng)樣本的外在特征、表面缺陷等情況。它雖然不能很好的滿足快速檢測(cè)的目的,但它有個(gè)重要的作用就是確定樣本品質(zhì)的有效特征波長(zhǎng),為多光譜圖像系統(tǒng)和機(jī)器視覺系統(tǒng)的搭建提供理論依據(jù),以實(shí)現(xiàn)在線、快速、無損檢測(cè)農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)目的。
例如,利用光譜和圖像融合信息,提取圖像中像素點(diǎn)的光譜信息建立LDA、QDA等分類器,構(gòu)造分割二值圖像來檢測(cè)棉花雜志(郭俊先.基于高光譜成像技術(shù)的棉花雜質(zhì)檢測(cè)方法的研究.2011,浙江大學(xué).);利用k-NN、LDC、SVM等分類方法對(duì)蘋果多波段圖像像素進(jìn)行分類分割,實(shí)現(xiàn)蘋果缺陷檢測(cè)(Unay?D,Gosselin?B.Automatic?defect?segmentation?of‘Jonagold’apples?on?multi-spectralimages:A?comparative?study.Postharvest?Biology?and?Technology,2006,42(3):271-279.)
目前,以水蜜桃作為研究對(duì)象的高光譜圖像研究比較少,大多數(shù)都是針對(duì)其他水果表面缺陷的高光譜研究,國(guó)內(nèi)還未見有關(guān)水蜜桃缺陷檢測(cè)的相關(guān)報(bào)道。Gowen等利用高光譜技術(shù)檢測(cè)白蘑菇表面瘀傷,分別對(duì)高光譜圖像立方塊和600條光譜(300個(gè)正常區(qū)和300瘀傷區(qū))做PCA分析,得到主成分分量圖像和虛擬圖像,經(jīng)過圖像分割,識(shí)別出缺陷區(qū)域。Xing等利用高光譜技術(shù)檢測(cè)“喬納金”蘋果表面瘀傷,基于瘀傷引起蘋果表面變形使PC1圖像等高線發(fā)生變化這一原理,研究出瘀傷識(shí)別算法。Zwiggelaar等結(jié)合光譜信息和機(jī)器視覺技術(shù)檢測(cè)桃和杏表面的瘀傷,利用光譜分析儀和3種分類準(zhǔn)則分析所得光譜,得到最優(yōu)雙波段組合,930nm和970nm。由CCD相機(jī)加濾波片獲得波段組合圖像,采用洪泛算法,分割出缺陷區(qū)域。但前兩位所涉及到的波段數(shù)太多,不利于多光譜在線檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種用于水蜜桃褐腐病缺陷檢測(cè)的特征角余弦值方法,是通過均值歸一化對(duì)由球面效應(yīng)引起的光譜差異進(jìn)行修正,根據(jù)像素點(diǎn)3個(gè)波段的灰度值所構(gòu)成的特征角的余弦值來對(duì)該像素點(diǎn)進(jìn)行分類,實(shí)現(xiàn)水蜜桃缺陷檢測(cè)。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
該方法的步驟如下:提取水蜜桃高光譜圖像中660nm、680nm及700nm波段圖像,對(duì)圖像進(jìn)行二值分割去背景、均值濾波和均值歸一化后,計(jì)算3個(gè)波段圖像像素構(gòu)成的特征角的余弦值,以此作為特征值構(gòu)建LDA像素分類器,實(shí)現(xiàn)水蜜桃褐腐病缺陷檢測(cè)。
所述提取波段圖像:以黑色托盤為背景,采集高光譜圖像,并提取660nm、680nm及700nm波段的水蜜桃圖像;
所述對(duì)圖像進(jìn)行二值分割去背景:以680nm波段圖像為對(duì)象,進(jìn)行閾值分割,即采用閾值為圖像像素最大灰度值×0.12的分割,大于該閾值的區(qū)域?yàn)樗麉^(qū)域,即得到水果區(qū)域;
所述均值濾波:對(duì)660nm、680nm及700nm波段圖像的水果區(qū)域進(jìn)行3×3均值濾波,即對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)和該像素點(diǎn)周圍8鄰域內(nèi)的像素求均值作為該像素點(diǎn)處的值,此8鄰域用3×3掩膜矩陣覆蓋,依次遍歷整個(gè)水果區(qū)域;
所述均值歸一化:對(duì)水果區(qū)域內(nèi)的每一個(gè)像素點(diǎn)(x,y)作如下處理:對(duì)像素點(diǎn)(x,y)處的光譜值離散序列求均值,即對(duì)660nm、680nm及700nm波段處的光譜值求和取平均,得每個(gè)波段光譜值除以此均值,實(shí)現(xiàn)高光譜圖像的均值歸一化;計(jì)算公式如下:
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





