[發明專利]基于雙譜分析的結構微裂紋混頻非線性超聲檢測方法有效
| 申請號： | 201210384727.5 | 申請日： | 2012-10-11 |
| 公開（公告）號： | CN102980945A | 公開（公告）日： | 2013-03-20 |
| 發明（設計）人： | 焦敬品;孫俊俊;李楠;劉增華;宋國榮;吳斌;何存富 | 申請（專利權）人： | 北京工業大學 |
| 主分類號： | G01N29/12 | 分類號： | G01N29/12 |
| 代理公司： | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人： | 劉萍 |
| 地址： | 100124 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 譜分析 結構 裂紋 混頻 非線性 超聲 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于雙譜分析的結構微裂紋混頻非線性超聲檢測方法，其特征在于：檢測方法步驟如下：
1）根據激勵探頭的頻率響應特性，選取幅值響應最大的一點頻率作為激勵探頭的激勵頻率；根據激勵/接收探頭的頻率響應特性在幅值衰減小于-3dB的頻率范圍內并綜合考慮接收系統特性，確定激勵/接收探頭的頻率變化范圍；
2）將兩探頭分別置于試件的兩端；同時激勵兩探頭，并用SNAP系統追蹤和頻和差頻信號；
3）根據和頻和差頻信號的追蹤結果，選取幅值最大的點作為激勵/接收探頭的頻率；
4）按照上述選定的頻率激勵激勵探頭和激勵/接收探頭，用示波器采集此時的激勵/接收探頭接收到的信號；
5）對該接收信號進行雙譜分析，根據分析結果中是否產生差頻和頻對應的非零特征點，即可判斷是否存在結構微裂紋；
6）保持選定的激勵信號頻率不變，通過設置不同的激勵信號延時，其中一個激勵信號延時為固定值，另一個激勵信號延時值變化，使兩列波在試件長度方向上依次相遇；用SNAP系統追蹤該過程時的和頻和差頻信號；
7）根據追蹤結果，當兩列波在微裂紋附近處相遇時，差頻和頻信號幅值最大，據此可判斷微裂紋所在位置。
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