[發明專利]基于雙譜分析的結構微裂紋混頻非線性超聲檢測方法

有效

• 申請號: 201210384727.5
• 申請日: 2012-10-11
• 公開（公告）號: CN102980945A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 焦敬品;孫俊俊;李楠;劉增華;宋國榮;吳斌;何存富
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01N29/12
• 分類號: G01N29/12
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203
• 代理人: 劉萍

1.一種基于雙譜分析的結構微裂紋混頻非線性超聲檢測方法，其特征在于：檢測方法步驟如下：

1）根據激勵探頭的頻率響應特性，選取幅值響應最大的一點頻率作為激勵探頭的激勵頻率；根據激勵/接收探頭的頻率響應特性在幅值衰減小于-3dB的頻率范圍內并綜合考慮接收系統特性，確定激勵/接收探頭的頻率變化范圍；

2）將兩探頭分別置于試件的兩端；同時激勵兩探頭，并用SNAP系統追蹤和頻和差頻信號；

3）根據和頻和差頻信號的追蹤結果，選取幅值最大的點作為激勵/接收探頭的頻率；

4）按照上述選定的頻率激勵激勵探頭和激勵/接收探頭，用示波器采集此時的激勵/接收探頭接收到的信號；

5）對該接收信號進行雙譜分析，根據分析結果中是否產生差頻和頻對應的非零特征點，即可判斷是否存在結構微裂紋；

6）保持選定的激勵信號頻率不變，通過設置不同的激勵信號延時，其中一個激勵信號延時為固定值，另一個激勵信號延時值變化，使兩列波在試件長度方向上依次相遇；用SNAP系統追蹤該過程時的和頻和差頻信號；

7）根據追蹤結果，當兩列波在微裂紋附近處相遇時，差頻和頻信號幅值最大，據此可判斷微裂紋所在位置。