[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置的制造方法和半導(dǎo)體裝置的制造系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210382782.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-10-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103050428B | 公開(公告)日: | 2018-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田中陽子 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 富士電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/683 | 分類號(hào): | H01L21/683;H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 朱立鳴 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 制造 方法 系統(tǒng) | ||
拾取系統(tǒng)的保持平臺(tái)(10)包括第一平臺(tái)(11)、支承第一平臺(tái)(11)的第二平臺(tái)(12)和排空管路(13),半導(dǎo)體芯片(1a)在粘附板(2)介于第一平臺(tái)和半導(dǎo)體芯片之間的狀態(tài)下安裝于第一平臺(tái)上。第一平臺(tái)(11)設(shè)有多個(gè)槽(21)、凸起部(22)和連接到槽(21)的氣孔(14),每個(gè)凸起部由相鄰槽(21)的側(cè)壁來形成。在拾取系統(tǒng)中,半導(dǎo)體芯片(1a)安裝于第一平臺(tái)(11)上,以使半導(dǎo)體芯片(1a)的整個(gè)端部不定位在一個(gè)槽(21)上。然后,由粘附板(2)和第一平臺(tái)(11)和第二平臺(tái)(12)圍繞的閉合空間(23)被排空,以使半導(dǎo)體芯片(1a)保持在凸起部(22)上。此后,通過夾頭來拾取半導(dǎo)體芯片(1a)。這提供半導(dǎo)體裝置制造方法和半導(dǎo)體裝置制造系統(tǒng),它們都能使半導(dǎo)體芯片(1a)從粘附板(2)移除,并以高品質(zhì)狀態(tài)來拾取該半導(dǎo)體芯片。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體裝置的制造方法和半導(dǎo)體裝置的制造系統(tǒng)。
背景技術(shù)
近年來,對(duì)IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)的半導(dǎo)體晶片的厚度盡心減小,以加強(qiáng)IGBT的性能并減少IGBT的成本。例如,為了加強(qiáng)IGBT的性能并減少IGBT的成本,有必要使半導(dǎo)體晶片的厚度減薄到50微米到100微米或更小的數(shù)量級(jí)上。
對(duì)于裝置厚度減小的半導(dǎo)體裝置的制造方法,提出如下一種制造方法。根據(jù)該方法,在實(shí)施諸如半導(dǎo)體晶片的底面的背面磨削或硅蝕刻之類的加工直至半導(dǎo)體晶片的厚度減小到規(guī)定厚度之前,大量裝置結(jié)構(gòu)形成于半導(dǎo)體晶片的頂面上。隨后,對(duì)于形成于半導(dǎo)體晶片的頂面上的每個(gè)裝置結(jié)構(gòu)實(shí)施切割,以將半導(dǎo)體晶片切斷以分開成各具有裝置結(jié)構(gòu)的單個(gè)半導(dǎo)體芯片。
對(duì)于裝置厚度減小的半導(dǎo)體裝置的另一制造方法,提出如下一種制造方法。根據(jù)該方法,在裝置結(jié)構(gòu)形成于半導(dǎo)體晶片的頂面上之后,在半導(dǎo)體晶片的頂面的切割線上形成凹槽,每個(gè)凹槽的深度大于例如完成后半導(dǎo)體裝置的規(guī)定厚度。然后,實(shí)施諸如半導(dǎo)體晶片的底面的背面磨削或硅蝕刻之類的加工,直至半導(dǎo)體晶片的厚度減小到規(guī)定厚度,通過這種加工,形成于半導(dǎo)體晶片的頂面上的凹槽使半導(dǎo)體晶片分開成單個(gè)半導(dǎo)體芯片。
對(duì)于裝置厚度減小的半導(dǎo)體裝置的又一制造方法,提出如下一種制造方法。根據(jù)該方法,在裝置結(jié)構(gòu)形成于半導(dǎo)體晶片的頂面上之后,實(shí)施諸如半導(dǎo)體晶片的底面的背面磨削或硅蝕刻之類的加工,以僅使半導(dǎo)體晶片的中間部分中直徑小于半導(dǎo)體晶片直徑的范圍內(nèi)變薄,以留出未加工的半導(dǎo)體晶片的外周部(下文被稱為肋部)。然后,在肋部未被加工的情況下或者在去除肋部之后實(shí)施對(duì)半導(dǎo)體晶片的切割,以將半導(dǎo)體晶片分開成單個(gè)半導(dǎo)體芯片。
在這樣切割半導(dǎo)體晶片時(shí),為了避免通過切割而分開的半導(dǎo)體芯片會(huì)散開的問題,公知一種方法:借助諸如切割板的粘附板來實(shí)施切割,該粘附板粘著到例如半導(dǎo)體晶片的底面上。在借助粘著到半導(dǎo)體晶片的底面上的粘附板來實(shí)施切割之后,將粘著到粘附板以與其固定的半導(dǎo)體芯片供給到拾取系統(tǒng),用于將半導(dǎo)體芯片從粘附板拾取以分開成單獨(dú)的半導(dǎo)體芯片。
對(duì)于從粘附板拾取半導(dǎo)體芯片的方法,提出如下一種方法。根據(jù)該方法,通過諸如針的工具例如從粘著有粘附板的底面?zhèn)认蛏贤泼總€(gè)半導(dǎo)體芯片,以減小半導(dǎo)體芯片與粘附板的接觸面積。然后,通過諸如夾頭的工具,將吸力施加于被針向上推的半導(dǎo)體芯片,以從粘附板拾取半導(dǎo)體芯片。然而,當(dāng)這種拾取方法應(yīng)用于薄型半導(dǎo)體芯片時(shí),上推半導(dǎo)體芯片的針可能造成半導(dǎo)體芯片的底面上的裂紋或半導(dǎo)體芯片的破損。
為了解決這個(gè)問題,作為在不用針來推動(dòng)的情況下減小半導(dǎo)體芯片和粘附板之間的接觸面積的方法,提出如下方法。根據(jù)該方法,采用包括夾具基座和粘附層的固定夾具。該夾具基座在一側(cè)具有側(cè)壁以及多個(gè)凸起部。粘附層層疊在具有凸起部的夾具基座的表面上,并連結(jié)于側(cè)壁的頂面。在具有凸起部的夾具基座表面上,由粘附層、凸起部和側(cè)壁構(gòu)成分區(qū)空間。每個(gè)分區(qū)空間通過通孔連接到真空源。通過通孔,吸力施加于每個(gè)分區(qū)空間內(nèi)的空氣,以使粘附層變形。并且,夾頭從芯片的頂面?zhèn)葘⑽κ┘佑谛酒詮恼掣綄邮叭⌒酒▍⒁娎鏙P-A-2008-103493)。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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