[發明專利]一種磁記錄薄膜的制備方法無效
| 申請號: | 201210382689.X | 申請日: | 2012-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN102864424A | 公開(公告)日: | 2013-01-09 |
| 發明(設計)人: | 劉立旺;黨紅剛;盛偉;曹江偉;白建民;王穎;魏福林 | 申請(專利權)人: | 蘭州大學 |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C23C14/58;C23C14/06 |
| 代理公司: | 蘭州振華專利代理有限責任公司 62102 | 代理人: | 張晉 |
| 地址: | 730000 *** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 記錄 薄膜 制備 方法 | ||
1.一種磁記錄薄膜的制備方法,其特征在于首先將其表面有一層氧化硅的基片經清潔處理,然后用真空共濺射方式在基片表面共濺射生長出一層FePt-MgO薄膜,其中:薄膜中Fe原子和Pt原子的比例為31:69-51:49,MgO與薄膜的體積比為5%-40%;濺射Fe為直流濺射方式,濺射Pt和MgO為交流濺射方式,然后再將薄膜在真空條件下進行退火處理。
2.權利要求1所述的一種磁記錄薄膜的制備方法,其特征在于薄膜中Fe原子和Pt原子的比例為47:53,MgO與薄膜的體積比為20%;退火溫度為700℃。
3.權利要求1或2所述的一種磁記錄薄膜的制備方法,其特征在于濺射腔室的真空度小于1.7X10-7?Torr后開始濺射制備薄膜,濺射氣壓為5?mTorr,分別起輝Fe靶、Pt靶和MgO靶,并通過調整Fe靶和Pt靶的濺射功率,控制薄膜中Fe原子和Pt原子的比例,氧化鎂的含量也是通過控制濺射速率來控制,濺射功率范圍為35w-240?W;制備好的FePt-MgO薄膜在真空退火爐中退火,爐中真空度小于1X10-3?Torr,退火溫度為700?oC,升溫方式為先從室溫升至50?oC,然后在50?oC保溫5?分鐘,其后升溫速率為50?oC/min,退火時間為60分鐘,加熱結束后把真空退火爐的溫度設為0?oC,等到爐腔內溫度降到低于55?oC后,取出薄膜。
4.權利要求3所述的小晶粒尺寸和垂直取向的L10相FePt-MgO磁記錄薄膜的制備方法,其特征在于MgO的濺射功率為95?W。
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