[發明專利]半導體激光器光束特性測試裝置及測試方法

無效

• 申請號: 201210382030.4
• 申請日: 2012-10-10
• 公開（公告）號: CN102914420A
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發明（設計）人: 張普;劉興勝;吳迪;宗恒軍
• 申請（專利權）人: 西安炬光科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 陳廣民

1.半導體激光器光束特性測試裝置，包括半圓形光束接收裝置和旋轉驅動機構；半導體激光器的輸出端位于該半圓形光束接收裝置的圓心，半圓形光束接收裝置面向半導體激光器安裝有多個光接收器，各個光接收器分別接有微型探測器；以半導體激光器的輸出光束的光軸為旋轉軸，半圓形光束接收裝置或半導體激光器由所述旋轉驅動機構驅動旋轉。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述多個光接收器均勻分布，各個光接收器與半導體激光器的輸出端之間的距離相等。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述光接收器為光纖或光波導；微型探測器采用光電二極管或光電倍增管。

4.采用如權利要求1所述測試裝置實現半導體激光器光束特性測試的方法，包括以下步驟：

1）半導體激光器的位置保持固定，以半導體激光器的輸出光束的光軸為旋轉軸，旋轉半圓形光束接收裝置180度，在旋轉過程中，多次測量、記錄半圓形光束接收裝置上每個光接收器的光強，得到所有光接收器對應于不同旋轉角度的光強數據；

2）對數據進行分析處理，獲得表征半導體激光器光束特性的信息。

5.采用如權利要求1所述測試裝置實現半導體激光器光束特性測試的方法，包括以下步驟：

1）半圓形光束接收裝置的位置保持固定，以半導體激光器的輸出光束的光軸為旋轉軸，旋轉半導體激光器180度，在旋轉過程中，多次測量、記錄半圓形光束接收裝置上每個光接收器的光強，得到所有光接收器對應于不同旋轉角度的光強數據；

2）對數據進行分析處理，獲得表征半導體激光器光束特性的信息。