[發明專利]一種電磁繼電器參數測試儀

無效

• 申請號: 201210381872.8
• 申請日: 2012-10-10
• 公開（公告）號: CN102854462A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 吳新潮
• 申請（專利權）人: 西安北斗星數碼信息股份有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 西安西達專利代理有限責任公司 61202
• 代理人: 郭秋梅

技術領域

本發明涉及一種測試儀，具體涉及一種電磁繼電器參數測試儀。

背景技術

目前，現有電磁繼電器綜合參數測試儀技術主要采用可調直流穩壓源和低阻表組合進行測量，由于操作復雜，必須要有專業人員進行檢測，導致測試環節繁瑣，工作效率極低，對于大批量的繼電器生產檢測極為困難。

發明內容

為了克服上述現有技術的不足，本發明的目的在于提供了一種電磁繼電器參數測試儀，具有結構簡單、操作方便、測試時間短、可靠性高和工作效率高的特點。

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案是：一種電磁繼電器參數測試儀，所述的MCU控制芯片的按鍵端與功能按鍵相連，MCU控制芯片的顯示端與顯示驅動相連，MCU控制芯片的采集端與AD信號采樣器相連，MCU控制芯片的信號驅動端與DA信號驅動器相連，MCU控制芯片的**端與供電電源相連，MCU控制芯片的測試端與測試接口相連。

本發明的有益效果是：

本發明跟現有技術相比較具有如下優點：

1）結構設計合理，為什么說結構設計合理？體現在哪里？

2）測試功能齊全，可用于測試常開、常閉、轉換型電磁繼電器的線圈電阻、接觸電阻、吸合電壓、釋放電壓、磁路閉合、吸合時間和釋放時間參數；測量速度快，快檢時間僅需1秒/只；

3）操作簡單。本使用新型只需操作人員將被測繼電器與測試接口連接好，啟動功能設置按鈕模塊中的快檢或精檢按鈕，本使用新型根據事先設定的程序對被測繼電器進行各種參數測試，操作人員無需具備專業知識。

附圖說明

附圖1為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明作進一步詳細說明。

參見附圖1，一種電磁繼電器參數測試儀，所述的MCU控制芯片1的按鍵端與功能按鍵2相連，MCU控制芯片1的顯示端與顯示驅動3相連，MCU控制芯片1的采集端與AD信號采樣器5相連，MCU控制芯片1的信號驅動端與DA信號驅動器6相連，?MCU控制芯片1的測試端與測試接口4相連。

本發明的工作原理是：

MCU控制芯片內置各部件工作測試程序，對檢測數據具有快速運算處理功能。

時鐘頻率用于對MCU控制芯片提供工作頻率。

AD信號采樣器將采樣到的信號進行AD轉換，并送至MCU控制芯片，MCU控制芯片對采樣數據進行運算處理。

DA信號驅動器可進行0—48V電壓的數字調控。

顯示驅動用于連接外部液晶顯示屏，用于顯示測試數據。

測試接口模塊用和繼電器各引腳相連接。

本使用新型只需操作人員將被測繼電器與測試接口連接好，啟動功能按鍵中的快檢或精檢按鈕，本使用新型根據事先設定的程序對被測繼電器進行各種參數測試，操作人員無需具備專業知識，并且檢測速度快，檢測效率高，除對單個繼電器進行測試外，本發明還適用于流水線的大批量生產，從而在保證質量的同時提高工作效率。