[發明專利]漏電輝點攔檢方法及裝置

有效

• 申請號: 201210379434.8
• 申請日: 2012-09-29
• 公開（公告）號: CN102881241A
• 公開（公告）日: 2013-01-16
• 發明（設計）人: 黃皓;李志明;潘昶宏
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

技術領域

本發明涉及液晶面板技術領域，尤其涉及一種漏電輝點攔檢方法及裝置。

背景技術

TFT-LCD（Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display，薄膜晶體管液晶顯示器）面板的漏電輝點指的是，由TFT開關漏電而形成的輝點。參照圖1，圖1為TFT開關異常結構示意圖；如圖1所示，當TFT開關異常時，液晶面板上會出現輝點，影響液晶面板的使用效果。

考慮到檢測成本，目前現有技術在液晶面板的Cell制程階段仍采用1D1G點燈方式對其進行檢測，即提供一個數據線的驅動電路，與柵極側通過導電膠電性連接的導電端子是否啟用進行配合，檢測漏電輝點；但1D1G點燈驅動檢測方式只能點亮黑、白和灰這種單色畫面，具體為：對于VA模式而言，在某幀顯示為黑時，導電端子導通，而測試幀對數據線并無信號輸入，潛在存在的已損壞的TFT對應的像素位置同樣顯示為黑；若某幀顯示為白時，由于白色為三原色混合而成，需要液晶在電場力的作用下發生偏轉透光，此時，導電端子導通，而測試幀對數據線也輸入測試信號；通常情況下，數據線輸入的測試信號仍可直接作用于像素點擊與存儲電容，潛在存在的已經損壞的TFT對應的像素位置也同樣地顯示為白色；而灰色作為黑色和白色之間的一種色調，其中潛在已經損壞的TFT對應的像素顯示灰色的原因類似于白色，在此不再贅述。由此可見，現有技術中，在液晶面板的Cell制程卻無法檢測潛在的因TFT開關損壞而引發的漏電輝點。

發明內容

本發明的主要目的是提供一種漏電輝點攔檢方法及裝置，旨在攔檢液晶面板在Cell制程階段的漏電輝點。

本發明公開了一種漏電輝點攔檢方法，包括以下步驟：

提供一數據線的驅動電路并導入柵極側的柵極驅動，將所述柵極側的端子區通過導電膠電性連接；

將所述柵極側的端子區分為第一區域和第二區域后，開啟像素電極開關，并向數據側傳送驅動信號；

通過選擇性驅動所述柵極側第一區域或第二區域的導電端子，攔檢漏電輝點。

優選地，所述通過選擇性驅動所述柵極側第一區域或第二區域的導電端子，攔檢漏電輝點的步驟具體包括：

驅動所述柵極側第一區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第二區域的導電端子，攔檢所述第二區域的漏電輝點；

或者，驅動所述柵極側第二區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第一區域的導電端子，攔檢所述第一區域的漏電輝點。

優選地，所述攔檢所述第二區域的漏電輝點具體包括：

在驅動所述柵極側第一區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第二區域的導電端子時，若第二區域存在透光的亮點，則所述透光的亮點即為所述漏電輝點；

所述攔檢所述第一區域的漏電輝點具體包括：

在驅動所述柵極側第二區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第一區域的導電端子時，若第一區域存在透光的亮點，則所述透光的亮點即為所述漏電輝點。

優選地，所述第一區域和第二區域的劃分由所述柵極側上的覆晶薄膜COF的個數決定。

優選地，所述第一區域和第二區域的劃分由所述柵極側上的COF個數決定具體包括：

所述柵極側有偶數個COF時，所述第一區域和第二區域等分；

所述柵極側有奇數個COF時，所述第一區域和第二區域不等分；

所述柵極側僅有一個COF時，所述柵極側平均分為上下兩個區域。

本發明還公開一種漏電輝點攔檢裝置，包括：

開關信號產生器，用于提供一數據線的驅動電路并導入柵極側的柵極驅動；

將所述柵極側的端子區通過導電膠電性連接；將所述柵極側的端子區分為第一區域和第二區域后，開啟像素電極開關，并向數據側傳送驅動信號；

開關信號轉接單元，用于通過選擇性驅動所述柵極側第一區域或第二區域的導電端子，攔檢漏電輝點。

優選地，所述開關信號轉接單元具體用于：

驅動所述柵極側第一區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第二區域的導電端子，攔檢所述第二區域的漏電輝點；

或者，驅動所述柵極側第二區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第一區域的導電端子，攔檢所述第一區域的漏電輝點。

優選地，所述開關信號轉接單元攔檢所述第二區域的漏電輝點具體包括：

在驅動所述柵極側第一區域的導電端子，同時不驅動所述柵極側第二區域的導電端子時，若第二區域存在透光的亮點，則所述透光的亮點即為所述漏電輝點；

所述開關信號轉接單元攔檢所述第一區域的漏電輝點具體包括：