[發明專利]一種光強測試設備

有效

• 申請號: 201210376009.3
• 申請日: 2012-09-29
• 公開（公告）號: CN102853905A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 張彌
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;趙愛軍

技術領域

本發明涉及液晶面板技術，尤其涉及一種光強測試設備。

背景技術

隨著薄膜場效應晶體管液晶顯示（TFT-LCD）技術的發展和工業技術的進步，液晶顯示器件生產成本降低、制造工藝的日益完善，使其成為當前顯示領域的主流技術。LCD是所有顯示器中耗電較低的產品，特別是反射型TFT-LCD，由于取消了背光源，其功耗比透射式TFT-LCD低了一個數量級。

傳統透射型液晶顯示器在光強測試時，是由背面照射，正面測試的方法進行光強測試，而反射型薄膜場效應晶體管液晶顯示器或沒有背光源的其它被測設備，由于沒有背光源無法按照上述的方法進行光強測試。

由此可見現有技術中存在無法對沒有背光源的被測設備進行光強測試的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種光強測試設備，解決現有技術中存在的無法對沒有背光源的被測設備進行光強測試的問題。

本發明提供一種光強測試設備，光強測試設備包括光源和光強測試器，其中光源發射的光線經過第一光路，經被測設備反射后經過第二光路，光強測試器的光接收面位于第一光路之外，且能夠接收第二光路上的光。

優選地，所述被測設備為反射型液晶面板。

優選地，還包括光反射板，其中光源發射的光線經光反射板反射后，射向反射型液晶面板，再經反射型液晶面板反射后經過第二光路。

優選地，光源發射的光線經光反射板反射后，垂直射向反射型液晶面板。

優選地，光源發射的光線與反射型液晶面板平行。

優選地，所述光反射板上設置有光通過孔，經過所述第二光路的光通過所述光通過孔被光強測試器的光接收面接收。

優選地，所述光通過孔設置在所述光反射板的中心區域。

優選地，所述光通過孔的外形為圓形或多邊形或橢圓形。

優選地，所述光反射板的反射面上設置有反射棱鏡。

優選地，所述反射棱鏡為多個，分別設置于所述光通過孔的四周。

優選地，光強測試設備進一步包括轉動裝置，轉動裝置用于在反射型液晶面板所在的平面內，轉動和移動所述反射型液晶面板。由于本發明實施例所述光強測試設備是通過光源和光強測試器采用反射的方式進行測試，光源發射的光線經過第一光路，經沒有背光源的被測設備反射后經過第二光路射入光強測試器，從而實現對被測設備的光強測試。

附圖說明

圖1所示為本發明提供的反射型液晶面板測試設備剖面圖；

圖2所示為本發明提供的帶反射板的反射型液晶面板測試設備剖面圖；

圖3所示為本發明提供的反射型液晶面板測試設備反射板俯視圖；

圖4所示為本發明提供的帶轉動裝置的反射型液晶面板測試設備反射板俯視圖。

具體實施方式

本發明提供一種光強測試設備，為了解決現有技術中存在的無法對沒有背光源的被測設備進行光強測試的問題。

為了便于本領域技術人員的理解，下面結合反射型液晶面板的具體實施例和附圖對本發明進行說明。

參見圖1所示，該圖為本發明提供的測試設備剖面圖。

本發明實施例以反射型液晶面板作為被測設備進行說明，當然被測設備也可以是其它需要進行光強測試的設備，在此不再詳述。

本發明實施例所述光強測試設備具體可以包括：光源11和光強測試器12。

其中光源11發射的光線經過第一光路，經反射型液晶面板13反射后經過第二光路，光強測試器12的光接收面位于第一光路之外，且位于第二光路之上。

這樣通過光源11和光強測試器12經過反射的方式可以對反射型液晶面板13進行光強測試。

反射型液晶面板可以包括半透半反液晶面板和全反射液晶面板。

由于本發明實施例所述光強測試設備是通過光源11和光強測試器12采用反射的方式進行測試，光源11發射的光線經過第一光路，經被測設備反射后經過第二光路射入光強測試器12，從而實現對被測設備的光強測試。

如圖2所示，本發明實施例所述光強測試設備還可以包括光反射板14。其中光源11發射的光線經光反射板14反射后，射向反射型液晶面板13，再經反射型液晶面板反射（漫反射）后經過第二光路，射入光強測試器12的光接收面。

為了便于光強測試器12對光強的計算，需要保證測試時光源11的入射光能夠垂直射向反射型液晶面板13。光源11發射的光線經光反射板14反射后，垂直射向反射型液晶面板13，再經反射型液晶面板反射（漫反射）后經過第二光路，射入光強測試器12的光接收面。