[發明專利]目標定位的方法、裝置和系統

有效

• 申請號: 201210370044.4
• 申請日: 2012-09-27
• 公開（公告）號: CN103702410B
• 公開（公告）日: 2017-04-05
• 發明（設計）人: 王悅
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04W64/00
• 分類號: H04W64/00
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司11329
• 代理人: 毛威,張亮

1.一種目標定位的方法，其特征在于，所述方法包括：

定位系統的簇節點獲取與至少一個目標設備相對應的測量數據，其中，用于反映所述至少一個目標設備在所述定位系統內的位置的定位向量具有稀疏性；

對所述測量數據進行去相關處理；

向所述定位系統的處理中心發送上報數據，所述上報數據包括經所述去相關處理后的測量數據，以便于所述處理中心根據來自至少兩個簇節點的上報數據和定位矩陣的低秩特性，確定所述至少一個目標設備在所述定位系統內的位置，其中，所述定位矩陣是列數與所述簇節點數量相同的列向量矩陣，所述定位矩陣的列向量為所述定位向量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述定位系統的簇節點獲取與至少一個目標設備相對應的測量數據包括：

定位系統的簇節點接收所述至少一個目標設備發出的信號；

確定所述信號的特征信息；

根據所述信號的特征信息，確定所述測量數據。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述定位系統的簇節點獲取與至少一個目標設備相對應的測量數據包括：

定位系統的簇節點接收預設范圍內的鄰居節點發送的第一信息，所述第一信息用于指示所述鄰居節點接收到的所述至少一個目標設備發出的信號；

根據所述第一信息，確定所述測量數據。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述去相關處理后的測量數據表示為，

y=Aθ

A=TΦΨB

其中，y為所述測量數據，Φ為采樣矩陣，用于指示與所述簇節點相對應的簇內用于檢測所述至少一個目標設備發出的信號的節點在所述定位系統中的位置，Ψ為預設的稀疏表示矩陣，T為根據Φ和Ψ生成的去相關矩陣，用于去除Φ與Ψ的相關性，B為與所述簇節點的觀測范圍相對應的限制矩陣，θ為所述定位向量。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述上報數據還包括用于指示所述簇節點的測量加性噪聲的第二信息。

6.一種目標定位的方法，其特征在于，所述方法包括：

定位系統的處理中心接收至少兩個簇節點發送的上報數據，所述上報數據包括測量數據，其中，測量數據是經所述簇節點進行去相關處理后獲取的與至少一個目標設備相對應的數據；

根據所述上報數據和定位矩陣的低秩特性，確定所述定位矩陣，其中，所述定位矩陣的列向量為具有稀疏性的定位向量，所述定位矩陣是列數與所述簇節點數量相同的列向量矩陣，以將所述定位向量的獨立稀疏性轉換為由與所述簇節點數量相同的列數的定位向量所組成的所述定位矩陣的低秩特性，所述定位向量用于反映所述至少一個目標設備在所述定位系統內的位置；

根據所述定位矩陣，確定所述至少一個目標設備在所述定位系統內的位置。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述上報數據還包括用于指示所述簇節點的測量加性噪聲的第二信息。

8.根據權利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述根據所述上報數據和定位矩陣的低秩特性，確定所述定位矩陣，包括：

根據所述上報數據，生成用于反映所述定位系統的累加誤差的第一函數；

根據所述第一函數和指示所述定位矩陣的秩的第二函數，生成目標函數；

通過使所述目標函數最優化，確定所述定位矩陣。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一函數和指示所述定位矩陣的秩的第二函數，生成目標函數，包括：

確定權重值，所述權重值用于指示所述累加誤差和所述定位矩陣的低秩特性在確定所述定位矩陣時產生的影響的比例；

根據所述第一函數和指示所述定位矩陣的秩的第二函數，按所述權重值生成目標函數。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述確定權重值包括：

根據所述定位系統的噪聲和/或可容忍誤差，確定所述權重值。