[發明專利]基于光電式兩軸準直儀的轉臺分度誤差檢測方法有效
| 申請號： | 201210369699.X | 申請日： | 2012-09-27 |
| 公開（公告）號： | CN102914260A | 公開（公告）日： | 2013-02-06 |
| 發明（設計）人： | 郭敬濱;常青;曹紅艷 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人： | 王麗英 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 光電 式兩軸準直儀 轉臺 分度 誤差 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.基于光電式兩軸準直儀的轉臺分度誤差檢測方法，其特征在于它包括以下步驟：
（1）將多齒分度臺安裝在被檢轉臺工作面的中心，平面反射鏡固定在多齒分度臺上，利用自準直儀瞄準平面反射鏡；
（2）將被檢轉臺回轉一周使雙軸光電自準直儀兩軸均有讀數；
（3）將被檢轉臺置零位，讀取雙軸光電自準直儀的初始值，然后，將多齒分度臺及反射鏡隨被檢轉臺一起轉動φ角度，所述的φ＝360°/n，n為整數，且需滿足φ是多齒分度臺最小分度間隔的整數倍；
（4）將反射鏡隨多齒分度臺向相反的方向回轉-φ角度后，光電自準直儀再次瞄準反射鏡并讀取測量值，如此順序對被檢轉臺各被檢角度進行測量，直至整周；
（5）改變多齒分度臺相對于轉臺的傾斜角，同時保持雙軸光電自準直儀不動，重復步驟2至4進行第二次檢測，讀取雙軸光電自準直儀的測量值；
（6）根據公式計算被測轉臺各分度處的分度誤差為xi=(y′i1x′i-y′ix′i1)/(y′i1-y′i)。式中x'i，y′i為光電自準直儀第一次測量值，x'i1，y'i1為第二次測量值。
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