[發明專利]光學探測器

有效

• 申請號: 201210366993.5
• 申請日: 2012-09-28
• 公開（公告）號: CN103033143A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 山縣正意;根本賢太郎
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邸萬奎

1.一種光學探測器，包含：

激光光源，發射激光；

準直透鏡，將從所述激光光源發射的激光轉換成平行光；

光變形部件，允許所述平行光變化形狀為線激光；

輻射部件，采用所述線激光的被選部分照射待測量的物體；

圖像拾取部件，基于從所述物體表面反射的激光，拾取所述物體的像，該物體被所述線激光的被選部分照射；以及

控制器，通過所述輻射部件控制所述線激光的輻射，

其中，所述線激光由多個部分構成，該多個部分包括一個端部分和另一端部分；以及

所述控制器控制所述輻射部件，使得所述輻射部件采用所述線激光的部分，從所述一個端部分至另一端部分順序地照射所述物體。

2.根據權利要求1所述的光學探測器，其中所述輻射部件為光反射部件，該光反射部件反射所述線激光的被選部分。

3.根據權利要求2所述的光學探測器，其中

所述光反射部件為數字微鏡器件，該數字微鏡器件包括以柵格狀形式布置的多個微反射鏡；以及

當所述線激光投射至所述微反射鏡的一些上時，所述控制器從這些微反射鏡的一端向另一端順序地開啟所述微反射鏡中的所述一些，并關閉所述微反射鏡中的所述一些中除了剛被開啟的微反射鏡之外的微反射鏡。

4.根據權利要求1所述的光學探測器，其中所述輻射部件為光透射部件，該光透射部件透射所述線激光的被選部分。

5.根據權利要求4所述的光學探測器，其中

所述光透射部件為快門陣列，包括以行布置的快門；以及

所述控制器從這些快門的一端至另一端順序地打開所述快門，而關閉除了剛被打開的快門之外的快門。

6.根據權利要求5所述的光學探測器，其中

所述快門陣列為液晶快門陣列、MEMS快門陣列和PLZT快門陣列中的一個。

7.根據權利要求1所述的光學探測器，其中

基于所述物體的像，所述控制器確定虛假像的存在或不存在，所述像通過所述圖像拾取部件來拾取；以及

當所述控制器確定所述虛假像存在時，所述控制器防止所述線激光的一部分朝著所述物體傳播，所述線激光的所述部分導致所述虛假像的形成。

8.根據權利要求2所述的光學探測器，其中

基于所述物體的像，所述控制器確定虛假像的存在或不存在，所述像通過所述圖像拾取部件來拾取；以及

當所述控制器確定所述虛假像存在時，所述控制器防止所述線激光的一部分朝著所述物體傳播，所述線激光的所述部分導致所述虛假像的形成。

9.根據權利要求3所述的光學探測器，其中

基于所述物體的像，所述控制器確定虛假像的存在或不存在，所述像通過所述圖像拾取部件來拾取；以及

當所述控制器確定所述虛假像存在時，所述控制器防止所述線激光的一部分朝著所述物體傳播，所述線激光的所述部分導致所述虛假像的形成。

10.根據權利要求4所述的光學探測器，其中

基于所述物體的像，所述控制器確定虛假像的存在或不存在，所述像通過所述圖像拾取部件來拾取；以及

當所述控制器確定所述虛假像存在時，所述控制器防止所述線激光的一部分朝著所述物體傳播，所述線激光的所述部分導致所述虛假像的形成。

11.根據權利要求5所述的光學探測器，其中

基于所述物體的像，所述控制器確定虛假像的存在或不存在，所述像通過所述圖像拾取部件來拾取；以及

當所述控制器確定所述虛假像存在時，所述控制器防止所述線激光的一部分朝著所述物體傳播，所述線激光的所述部分導致所述虛假像的形成。

12.根據權利要求6所述的光學探測器，其中

基于所述物體的像，所述控制器確定虛假像的存在或不存在，所述像通過所述圖像拾取部件來拾取；以及

當所述控制器確定所述虛假像存在時，所述控制器防止所述線激光的一部分朝著所述物體傳播，所述線激光的所述部分導致所述虛假像的形成。