[發(fā)明專利]采用雙錳銅設(shè)計抗外界磁場干擾的電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210365386.7 | 申請日: | 2012-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN102854356A | 公開(公告)日: | 2013-01-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 姜干才;劉崢嶸;江少輝 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州炬華科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R15/00 | 分類號: | G01R15/00;G01R15/14 |
| 代理公司: | 杭州賽科專利代理事務(wù)所 33230 | 代理人: | 曹紹文 |
| 地址: | 310030 浙江省杭*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 采用 雙錳銅 設(shè)計 外界 磁場 干擾 電路 | ||
1.采用雙錳銅設(shè)計抗外界磁場干擾的電路,其特征在于:所述的雙錳銅抗干擾電路包括形狀結(jié)構(gòu)相同且阻抗相同的兩塊錳銅片和絕緣隔離片,所述的兩塊錳銅片分為第一錳銅片和第二錳銅片,第一錳銅片疊合于第二錳銅片下側(cè),第一錳銅片與第二錳銅片之間夾有絕緣隔離片,第一錳銅片一側(cè)設(shè)有第一采樣線和第二采樣線,第二錳銅片一側(cè)設(shè)有第三采樣線和第四采樣線,第一采樣線和第四采樣線連接,第二采樣線和第三采樣線連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州炬華科技股份有限公司,未經(jīng)杭州炬華科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210365386.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種電阻測試方法
- 下一篇:一種全鹵水機械蒸汽再壓縮法制堿工藝及裝置





