[發(fā)明專利]基于量子統(tǒng)計的高精度光學成像裝置與方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210364582.2 | 申請日: | 2012-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN102902056A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫方穩(wěn);崔金明;郭光燦 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學技術(shù)大學 |
| 主分類號: | G02B21/36 | 分類號: | G02B21/36 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 230026 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 量子 統(tǒng)計 高精度 光學 成像 裝置 方法 | ||
1.一種基于量子統(tǒng)計的光學成像裝置,其特征在于,包括激光共聚焦顯微裝置(1)、單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2)和主控裝置(3),其中,
激光共聚焦顯微裝置(1)用于激發(fā)樣品并收集樣品發(fā)射的熒光,并將該熒光導(dǎo)入所述單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2);
單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2)用于接收來自激光共聚焦顯微裝置(1)的熒光信號,產(chǎn)生多個單光子計數(shù)信號和多光子符合計數(shù)信號,并向主控裝置(3)輸出多個單光子計數(shù)信號和多光子符合計數(shù)信號,所述多個單光子計數(shù)信號和多光子符合計數(shù)信號用于重構(gòu)樣品圖像;
主控裝置(3)分別連接于所述激光共聚焦顯微裝置(1)和單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2),用于產(chǎn)生控制信號并分別輸出給激光共聚焦顯微裝置(1)和單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2),以控制激光共聚焦顯微裝置(1)的共聚焦掃描與單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2)的數(shù)據(jù)采集同步。
2.如權(quán)利要求1所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像裝置,其特征在于,所述單光子計數(shù)統(tǒng)計裝置(2)包括兩個單光子探測器(D1、D2)、一個延時器(DL)、一個光子符合計數(shù)裝置(TAC)和一個多通道分析儀(MCA),
所述兩個單光子探測器(D1、D2)根據(jù)輸入的熒光信號分別產(chǎn)生單光子計數(shù)信號;
所述光子符合計數(shù)裝置(TAC)用于根據(jù)上述兩個單光子計數(shù)信號產(chǎn)生雙光子符合計數(shù)信號和時間幅度轉(zhuǎn)換信號。
3.如權(quán)利要求2所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像裝置,其特征在于,所述光子符合計數(shù)裝置(TAC)包括兩個輸入端和兩個輸出端,兩個輸入端分別用于輸入由所述光子探測器(D1、D2)產(chǎn)生的單光子計數(shù)信號,其中一個輸入端與所述光子探測器之間具有一個延時裝置(DL),兩個輸出端分別用于輸出時間幅度轉(zhuǎn)換信號和雙光子符合計數(shù)信號。
4.如權(quán)利要求3所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像裝置,其特征在于,所述延時裝置(DL)是加長的信號線。
5.如權(quán)利要求2所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像裝置,其特征在于,所述時間幅度信號輸出到多通道分析儀(MCA)中,所述多通道分析儀(MCA)用于對多個時間幅度轉(zhuǎn)換信號進行統(tǒng)計,得到雙光子符合計數(shù)信號的強度與所述兩個單光子計數(shù)信號之間的時間間隔的關(guān)系,以確定雙光子符合計數(shù)的零點位置。
6.一種基于量子統(tǒng)計的光學成像方法,其特征在于,包括如下步驟:
將激光照射到樣品上;
對樣品上發(fā)射的熒光進行單光子計數(shù),產(chǎn)生多個單光子計數(shù)信號;
根據(jù)所述多個單光子計數(shù)信號產(chǎn)生多光子符合計數(shù)信號;
對多光子符合計數(shù)信號和多個單光子計數(shù)信號的強度圖像進行處理,獲得分辨率小于瑞利極限的樣品圖像。
7.如權(quán)利要求6所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像方法,其特征在于,所述多光子符合計數(shù)信號包括:N個光子的符合計數(shù)信號、N-1個光子的符合計數(shù)信號、……、2個光子的符合計數(shù)信號,其中N為發(fā)光點的個數(shù)。
8.如權(quán)利要求6所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像方法,其特征在于,
使用公式來計算所述樣品上兩個點A、B的光強IA和IB,其中I1為兩個單光子計算信號強度之和,I2為雙光子符合計數(shù)信號強度。
9.如權(quán)利要求6所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像方法,其特征在于,所述雙光子符合計數(shù)的取樣窗口寬度設(shè)置為小于熒光壽命的5倍。
10.如權(quán)利要求9所述的基于量子統(tǒng)計的光學成像方法,其特征在于,所述雙光子符合計數(shù)的取樣窗口寬度為2ns。
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