[發明專利]薄壁葉片精密銑削加工變形補償方法無效
| 申請號: | 201210364066.X | 申請日: | 2012-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN102880756A | 公開(公告)日: | 2013-01-16 |
| 發明(設計)人: | 劉維偉;單晨偉;成宏軍;李曉燕;蔡元元 | 申請(專利權)人: | 西北工業大學 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 西北工業大學專利中心 61204 | 代理人: | 陳星 |
| 地址: | 710072 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄壁 葉片 精密 銑削 加工 變形 補償 方法 | ||
1.一種薄壁葉片精密銑削加工變形補償方法,其特征在于:包括以下步驟:
步驟1:在葉片三維模型中提取n條垂直于參數v向的葉片截面,并提取每個葉片截面的截面線;在每條截面線上按照等弧長設定m個測量點;
步驟2:按照步驟1中葉片三維模型對葉片進行加工后,測量葉片每個截面上各測量點的坐標;根據測量得到的測量點坐標與測量點的理論坐標,計算每個測量點的誤差,取每個截面上所有測量點的誤差均值,作為該截面上截面線的初次補償量;
步驟3:根據各個截面線的初次補償量,在葉片三維模型中對各個截面線進行補償,補償方向為葉片變形的相反方向;利用補償后得到的各個截面線,采用截面線放樣法重新構造葉片三維模型;
步驟4:按照步驟3中重新構造的葉片三維模型對葉片進行加工后,測量葉片每個截面上各測量點的坐標;根據測量得到的測量點坐標與測量點的理論坐標,計算每個測量點的誤差,在每個截面上取各自所有測量點的誤差最大值,計算各自截面的變形系數:
其中,ki為第i條葉片截面的變形系數,δi為第i條葉片截面上截面線的初次補償量,為步驟4得到的第i條葉片截面上所有測量點的誤差最大值;根據公式:
計算第i條葉片截面上截面線的精確變形補償量si;
步驟5:按照步驟4得到的各個葉片截面上截面線的精確變形補償量,在步驟1中的葉片三維模型中對各個截面線進行補償,補償方向為葉片變形的相反方向;利用本次補償后得到的各個截面線,采用截面線放樣法二次重構葉片三維模型;
步驟6:按照步驟5中二次重構的葉片三維模型對葉片進行加工后,測量葉片每個截面上各測量點的坐標;根據測量得到的測量點坐標與測量點的理論坐標,計算每個測量點的誤差,在每個截面上取各自所有測量點的誤差最大值,將本步驟中每個截面的誤差最大值與葉片設計要求的最大誤差值進行比較,若所有截面均滿足設計要求,則完成葉片的加工補償過程,若存在截面不滿足設計要求,則重復步驟3至步驟6,再次進行補償,其中已滿足設計要求的截面保持補償量不變,不滿足設計要求的截面以前次得到的精確變形補償量作為下次補償的初次補償量。
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