[發明專利]TFT-LCD基板的探測裝置

有效

• 申請號: 201210363912.6
• 申請日: 2012-09-26
• 公開（公告）號: CN102929005A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 張海建
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R1/073
• 代理公司: 深圳市德力知識產權代理事務所 44265
• 代理人: 林才桂

技術領域

本發明涉及TFT-LCD（薄膜晶體管液晶顯示器）陣列基板探測技術，尤其涉及一種TF-LCD基板探測裝置的探針結構。

背景技術

液晶顯示裝置（LCD，Liquid?Crystal?Display）具有機身薄、省電、無輻射等眾多優點，得到了廣泛的應用。現有市場上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示裝置，其包括液晶顯示面板及背光模組（backlight?module）。液晶顯示面板的工作原理是在兩片平行的玻璃基板當中放置液晶分子，通過玻璃基板通電與否來控制液晶分子改變方向，將背光模組的光線折射出來產生畫面。

通常液晶顯示面板由上基板（CF，Color?Filter）、下基板（TFT，Thin?Film?Transistor)、夾于上基板與下基板之間的液晶（LC，Liquid?Crystal）及密封膠框（Sealant）組成，其成型工藝一般包括：前段陣列（Array）制程（薄膜、黃光、蝕刻及剝膜）、中段成盒（Cell）制程（TFT基板與CF基板貼合）及后段模組組裝制程（驅動IC與印刷電路板壓合）。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的運動；中段Cell制程主要是在TFT基板與CF基板之間添加液晶；后段模組組裝制程主要是驅動IC壓合與印刷電路板的整合，進而驅動液晶分子轉動，顯示圖像。

灌入液晶的基板，在HVA（高電壓激活（high-voltage-activated））制程通過UV1（紫外線）照射配向，并通過AOI（自動光學檢驗（Automated?Optical?Inspection））檢查機檢查配向的效果。無論是UV1還是AOI，都需要通過探測器（Probe）上的探針（pin）與TFT基板的面板檢測信號輸入端（pad）一一接觸，從而對液晶進行加壓。探測器上設有對應TFT基板的區塊（block），區塊上設有與TFT基板的面板檢測信號輸入端相對應的探針進而完成對液晶的加壓。目前使用的探測器有兩種：

1、升降式探測器：探測器首先前進到TFT基板的面板檢測信號輸入端下方位置，然后探測器上升，直到探針扎到TFT基板的面板檢測信號輸入端上，然后加壓，從而完成HVA制程及AOI檢測。

2、夾持式探測器：探測器首先上升到TFT基板的高度，然后探測器前進到TFT基板的面板檢測信號輸入端位置，接著區塊上下兩部分同時夾住TFT基板，探針扎在TFT基板的面板檢測信號輸入端上，然后加壓，從而完成HVA制程及AOI檢測。

但無論升降式探測器還是夾持式探測器均具有以下缺陷：一種探測器只能對一種尺寸的TFT基板進行加壓。由于不同尺寸的TFT基板的TFT加壓點位不同，這就要求其對應的區塊上探針位置不同，所以針對不同尺寸的TFT基板，陣列檢測（Array?Checker）系列設備就需要更換探測器，并重新確認探針與TFT基板的接觸狀況及電壓輸出狀況，此舉既浪費產線時間，增加產線負荷，又容易換錯探測器，而且在換探測器的過程中會產生碰撞風險。

發明內容

本發明的目的在于提供一種TFT-LCD基板的探測裝置，可滿足各種不同尺寸的TFT基板的檢測需要，提高了產線的生產效率，并避免了現有更換探測器時產生碰撞的風險。

為實現上述目的，本發明提供一種TFT-LCD基板的探測裝置，包括：機臺主體、安裝于機臺主體上的電路板、安裝于機臺主體上的數個馬達及分別安裝于馬達上的數個探針，所述馬達和探針一一對應設置，所述電路板包括：可編程邏輯控制器及與可編程邏輯控制器電性連接的人機交互終端，所述數個馬達及數個探針均與可編程邏輯控制器電性連接，所述數個探針的位置對應不同尺寸TFT基板的面板檢測信號輸入端的位置設置，所述可編程邏輯控制器通過馬達驅動探針的升降。

所述可編程邏輯控制器包括：中央處理單元、與中央處理單元電性連接的存儲單元、與中央處理單元電性連接的通信接口及與中央處理單元電性連接的電源模塊，所述數個馬達及數個探針與中央處理單元電性連接，所述人機交互終端通過所述通信接口與可編程邏輯控制器電性連接。

所述存儲單元儲存有對應各種尺寸TFT基板的馬達驅動方法。

所述人機交互終端包括：與中央處理單元電性連接的按鈕模塊及與中央處理單元電性連接的顯示模塊，所述按鈕模塊用于馬達驅動方法的設置及選擇，所述顯示模塊用于輔助馬達驅動方法的設置及選擇。

通過菜單的方式進行馬達驅動方法的選擇。

所述馬達驅動方法中對數個馬達及數個探針按順序進行編號。