[發明專利]一種102F傅立葉光譜儀的適配器及使用方法有效
| 申請號: | 201210363506.X | 申請日: | 2012-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN102879106A | 公開(公告)日: | 2013-01-16 |
| 發明(設計)人: | 張仁華;田靜;蘇紅波;楊永民;陳少輝;唐伯惠;吳驊;孫曉敏;唐新齋;朱治林 | 申請(專利權)人: | 中國科學院地理科學與資源研究所 |
| 主分類號: | G01J5/02 | 分類號: | G01J5/02;G01J5/00 |
| 代理公司: | 北京思創畢升專利事務所 11218 | 代理人: | 劉明華 |
| 地址: | 100101 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 102 傅立葉 光譜儀 適配器 使用方法 | ||
1.一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:包括雙截嵌套黑體筒:為小截黑體筒(1)和大截黑體筒(2);小截黑體筒(1)與大截黑體筒(2)均為中空筒體;
所述小截黑體筒(1)一端與102F傅立葉光譜儀物鏡匹配連接,另一端與大截黑體筒(2)一端匹配連接;小截黑體筒(1)的軸線與大截黑體筒(2)的軸線位于同一直線上。
2.如權利要求1所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述大截黑體筒(2)一端與小截黑體筒(1)匹配連接,另一端設有尺寸擴展罩(3),所述尺寸擴展罩(3)內放置被測物。
3.如權利要求1或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
被測物與102F傅立葉光譜儀物鏡之間的測距與所述小截黑體筒(1)的徑向橫截面直徑之比大于6。
4.如權利要求1或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述小截黑體筒(1)和大截黑體筒(2)的筒體高度之和的范圍為600毫米~900毫米;所述大截黑體筒(2)的筒體徑向橫截面直徑為150毫米或140毫米;所述小截黑體筒(1)的筒體徑向橫截面直徑為33毫米。
5.如權利要求1或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述小截黑體筒(1)包括筒體(11)和端帽(12);所述端帽(12)通過螺紋或者卡扣方式與所述筒體(11)連接;所述端帽(12)為中空結構,102F傅立葉光譜儀物鏡連接在所述端帽(12)處,所述物鏡的軸線與所述小截黑體筒(1)、大截黑體筒(2)的軸線位在一條直線上。
6.如權利要求1或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述小截黑體筒(1)和大截黑體筒(2)的筒體高度之和的范圍為720毫米~840毫米;所述大截黑體筒(2)的筒體徑向橫截面直徑為150毫米或140毫米,所述小截黑體筒(2)的筒體徑向橫截面直徑為33毫米。
7.如權利要求1所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述大截黑體筒(2)和小截黑體筒(1)的筒體內壁設置為無光黑體,黑體筒等效比輻射率大于0.99。
8.如權利要求1或7所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述大截黑體筒(2)內壁覆蓋均勻涂覆有無光黑體漆;且在所述大截黑體筒(2)的筒體外壁覆蓋有高反射率的銀光漆;所述大截黑體筒(2)的筒體的材質選用低導熱率的PVC;
所述低導熱率是指熱穩定性S≥20,導熱率≤0.030W/mk;
所述小截黑體筒(1)為黑色PVC材質制成,內壁噴涂中性黑體漆。
9.如權利要求1所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器,其特征在于:
所述小截黑體筒(1)與102F傅立葉光譜儀物鏡的匹配固定方式為轉式鎖定。
10.如權利要求1~9之一所述的適配器的使用方法,其特征在于:依次包括如下步驟:
步驟一,預處理:將所述小截黑體筒(1)與所述大截黑體筒(2)進行匹配,而無絲毫漏光;
待觀測物體預處理:將所述適配器罩上待觀測物體至少15分鐘后再進行試驗;并遮擋適配器上太陽光,防止太陽直接輻射;
步驟二,實驗步驟:開啟裝置并初始化后設置實驗參數,進行預備性觀測和高低溫黑體的定標觀測,在適配器下觀測被測物體的黑體溫度、被測物體采樣觀測、天空下行輻射測量、測定適配器的環境輻射、數據保存;
在所述實驗步驟里,在適配器下觀測被測物體的黑體溫度的步驟為:
將102F傅立葉光譜儀物鏡置于適配器上方,與小截黑體筒(1)一端進行匹配固定,固定連接而無絲毫漏光;套上大截黑體筒(2)以調節被測地物與102F物鏡之間的測量距離;連接102F傅立葉光譜儀,進行測試;被測物與102F傅立葉光譜儀物鏡之間的測距與所述小截黑體筒(2)的徑向橫截面直徑之比大于6;所述測定適配器的環境輻射的步驟為:在被測物的位置放置金板,將適配器罩住金板,采樣,保存數據文件對應于上面觀測結果。
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