[發(fā)明專利]一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)及測量方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210362716.7
• 申請日: 2012-09-26
• 公開（公告）號: CN102841034A
• 公開（公告）日: 2012-12-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李虹杰;李金平;張培生;陳建新;李愷驊
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢市天虹儀表有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括至少兩根含塵氣流通道，分別為顆粒物去塵通道（1）以及顆粒物含塵通道（2）；所述顆粒物去塵通道（1）一端設(shè)有第一進(jìn)氣管口（3），另一端設(shè)有第一濃度檢測部件（7）；所述顆粒物含塵通道（2）一端設(shè)有第二進(jìn)氣管口（4），另一端設(shè)有第二濃度檢測部件（8）；所述顆粒物去塵通道（1）上還設(shè)有用于濾塵的顆粒物過濾裝置，第一進(jìn)氣管口（3）以及第二進(jìn)氣管口（4）均接有PM2.5切割器或PM1.0切割器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述的顆粒物去塵通道（1）包括上部含塵氣流通道（5）以及下部含塵氣流通道（6），上述第一進(jìn)氣管口（3）設(shè)在上部含塵氣流通道（5）一端，所述上部含塵氣流通道（5）另一端通過上述顆粒物過濾裝置與所述下部含塵氣流通道（6）一端連通；上述第一濃度檢測部件（7）設(shè)置在所述下部含塵氣流通道（6）的另一端。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述顆粒物過濾裝置包括一個(gè)內(nèi)部設(shè)有濾膜（9）的顆粒物過濾器以及用于放置顆粒物過濾器并能開合的濾膜放置殼體，所述顆粒物過濾器內(nèi)的濾膜濾徑為0.1μm～22μm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)，其特征在于，還包括一具有溫度探頭（11）的控溫裝置（10），上述濾膜放置殼體設(shè)置在控溫裝置（10）內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述第一濃度檢測部件（7）和第二濃度檢測部件（8）均為微量振蕩天平顆粒物濃度測量設(shè)備。

6.一種權(quán)利要求1所述的一種基于振蕩天平的顆粒物差分濃度測量系統(tǒng)的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，濃度校準(zhǔn)步驟，取下顆粒物過濾膜片，先通過零氣對兩個(gè)通道的濃度測量進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，具體方法是：將第一進(jìn)氣管口3和第二進(jìn)氣管口4通入零氣后，待零氣通入第一濃度檢測部件7和第二濃度檢測部件8，調(diào)整第一濃度檢測部件7和第二濃度檢測部件8使其測量數(shù)據(jù)一致；再通過采樣氣對兩個(gè)通道的濃度測量進(jìn)行濃度校準(zhǔn)，具體方法是：將第一進(jìn)氣管口3和第二進(jìn)氣管口4通入采樣氣后，待采樣氣通入第一濃度檢測部件7和第二濃度檢測部件8，參考標(biāo)準(zhǔn)采樣器所測濃度，調(diào)整第一濃度檢測部件7和第二濃度檢測部件8使其濃度一致；

步驟2，將被測顆粒物通入第一進(jìn)氣管口（3）和第二進(jìn)氣管口（4），定義第一進(jìn)氣管口（3）的被測顆粒物流量為Q₁，第二進(jìn)氣管口（4）的被測顆粒物流量為Q₂，第一濃度檢測部件（7）檢測顆粒物增重為ΔP₁=ΔP_水，第一濃度檢測部件（8）檢測顆粒物增重為ΔP₂=ΔP_水+ΔP_塵，其中，ΔP_水為顆粒物的含水量，ΔP_塵為顆粒物的含塵量，則ΔP_塵=ΔP₂-ΔP₁；

步驟3，在安裝過濾膜片前使用手工方法對采樣膜片進(jìn)行稱重，測量其初重，自動監(jiān)測儀運(yùn)行一定時(shí)間后，取下過濾膜片，使用手工方法對采樣膜片進(jìn)行稱重，測量其末重，相減得增重值，通過增重值對自動監(jiān)測儀記錄的平均濃度進(jìn)行核準(zhǔn)，并修正自動監(jiān)測儀的濃度數(shù)據(jù)。