[發明專利]一種紅外恒星與天空背景交叉輻射標校方法

有效

• 申請號: 201210361618.1
• 申請日: 2012-09-25
• 公開（公告）號: CN103674237A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 李霞;馬勇輝;朱小芳;劉興潤;佟惠原;朱希娟;董曉剛
• 申請（專利權）人: 中國航天科工集團第二研究院二〇七所
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/60
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 高尚梅

技術領域

本發明涉及一種紅外恒星與天空背景交叉輻射標校方法，特別是涉及一種目標光學特性研究領域的紅外恒星與天空背景交叉輻射標校方法。

背景技術

地面觀測設備開展空間目標輻射特性測量時，要準確完成對所研究對象的定量測量與分析，需對設備進行輻射響應度定標，建立探測器輸入量（電壓、電流、灰度等）與輸出量（輻射亮度、輻射通量等）的嚴格對應關系。數據的測量精度在很大程度上取決于標定精度，因此，定標過程己成為輻射特性測量系統研制、使用中的重要環節之一。

盡管測量設備在出廠時對其響應度進行了精確的室內檢測標定，但在實際使用過程中，環境變化、器件隨時間穩定性變化等因素，導致測量設備的響應曲線產生變化，需要開展試驗前、后，或階段性標校測量，用以校準因使用時間、環境變化等因素導致的輸出響應偏差。

經調查研究搜集相關資料：目前國內地基設備輻射定標技術多采用黑體加準直光學系統的方法，該方法能夠實現對設備的精確定標，缺點是對試驗現場的環境要求高。

因此亟需提供一種新型的紅外恒星與天空背景交叉輻射標校方法。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種不需增加額外標定設備，且標校方法簡便易于實現的紅外恒星與天空背景交叉輻射標校方法。

為解決上述技術問題，本發明一種紅外恒星與天空背景交叉輻射標校方法，依次包括以下步驟：

步驟1、在晴空無云的天氣條件下，在紅外標準星表中選取一顆紅外標準星進行測量，使恒星分別成像于探測器的四角和中心，進行n次測量，得到每次測量的成像像元的灰度值DN_1i；

得到設備灰度值DN₁；

DN1=1nΣ1nDN1i;]]>

獲得恒星大氣層外的輻射照度E₀₁；計算得到觀測路徑上的大氣程輻射E′₁和透過率t₁；

得到設備入瞳處輻射照度E₁；

E₁＝E₀₁·t₁+E₁′；

步驟2、在晴空無云的天氣條件下，在紅外標準星表中選取第二顆紅外標準星進行測量，使恒星分別成像于探測器的四角和中心，進行n次測量，得到每次測量的成像像元的灰度值DN_2i；

得到設備灰度值DN₂；

DN2=1nΣ1nDN2i;]]>

獲得恒星大氣層外的輻射照度E₀₂；計算得到觀測路徑上的大氣程輻射E′₂和透過率t₂；

得到設備入瞳處輻射照度E₂；

E₂＝E₀₂·t₂+E₂′；

步驟3、得到輻射響應系數A；