[發明專利]用于控制磁共振系統的方法

有效

• 申請號: 201210359754.7
• 申請日: 2012-09-25
• 公開（公告）號: CN103027679A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: S.比博;H.格雷姆;J.尼斯特勒;T.斯佩克納
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;G01R33/561
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于控制磁共振系統（1）的方法，該磁共振系統具有發送天線裝置（3），該發送天線裝置包括多個獨立的高頻發送通道（S₁,…，S_N），并且該磁共振系統具有布置在磁共振系統（1）中的局部線圈裝置（5），其中，

-在磁共振測量（MR）之前在測試階段（TP）中利用發送天線裝置（3）將具有多個并行的單獨的高頻脈沖的測試高頻脈沖（TS）經過不同的高頻發送通道（S₁,…，S_N）發送，所述測試高頻脈沖在發送功率更小的情況下產生基本上與在后面的磁共振測量（MR）中要發送的激勵高頻脈沖（HFS）相同的場分布，

-在局部線圈裝置（5）的至少一個范圍中測量通過該測試高頻脈沖（TS）產生的高頻場，

-基于測量的高頻場來確定在后面的磁共振測量（MR）期間在局部線圈裝置（5）上預計的高頻場值（HFW），和

-在后面的磁共振測量（MR）期間在考慮該高頻場值（HFW）的條件下進行磁共振系統（1）的控制。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，利用多個在局部線圈裝置（5）處布置的和/或在局部線圈裝置（5）中集成的天線元件（50,60）來測量通過所述測試高頻脈沖（TS）所產生的高頻場。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，利用局部線圈裝置（5）的多個磁共振天線元件（50）來測量通過所述測試高頻脈沖（TS）所產生的高頻場。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，利用多個測試天線元件（60）來測量通過所述測試高頻脈沖（TS）所產生的高頻場。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，作為高頻場值（HFW），確定局部高頻場振幅。

6.根據上述權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，作為高頻場值（HFW），確定均方高頻振幅。

7.根據上述權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，確定通過在局部線圈裝置（3）處和/或中的高頻場預計的溫度值（T_E）和/或預計的電壓值（U_E）。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，基于所述高頻場值（HFW）計算通過發送場引起的預計的檢查對象的物理高頻負擔值（S_E）。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的方法，其特征在于，在測試階段（TP）中發送包括多個測試高頻脈沖（TS）的測試脈沖序列，其相應于在后面的磁共振測量（MR）中要發送的脈沖序列的至少一個片段。

10.根據權利要求1至9中任一項所述的方法，其特征在于，將所述高頻場值（HFW）和/或溫度值（T_E）和/或電壓值（U_E）和/或物理高頻負擔值（S_E）與邊界值（HFW_max,T_max,U_max,S_max）比較并且根據比較結果來限制后面的磁共振測量（MR）。

11.根據權利要求1至10中任一項所述的方法，其特征在于，根據所述高頻場值（HFW）和/或電壓值（U_E）和/或溫度值（T_E）和/或物理高頻負擔值（S_E）以及必要時的邊界值（HFW_max,T_max,U_max,S_max）確定并修改對于后面的磁共振測量（MR）的脈沖序列。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的方法，其特征在于，在測試階段（TP）之前在校準階段（KP）中通過發送具有對于天線元件（50,60）的已知高頻場分布的校準高頻脈沖（KS）確定校準值（K）。