[發(fā)明專利]部分三模冗余SRAM型FPGA的單粒子翻轉(zhuǎn)特性的測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210355797.8
• 申請日: 2012-09-21
• 公開（公告）號: CN102901924A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發(fā)明（設計）人: 于慶奎;羅磊;張大宇;劉迎輝;唐民;祝名
• 申請（專利權(quán)）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 北京泛華偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11280
• 代理人: 王勇;王博

1.一種部分三模冗余SRAM型FPGA的單粒子翻轉(zhuǎn)特性的測試方法，包括：

1）用LET值大于翻轉(zhuǎn)閾值的高能粒子，在設定的注量率下輻照被測器件，當器件輸出特性不正確且在停止粒子束輻照的時間T1內(nèi)器件功能未恢復正常時，則記錄1次單粒子錯誤，重新配置FPGA器件功能，并多次重復輻照被測器件以得到累計的單粒子錯誤，并計算單粒子錯誤截面；

2）使粒子的LET值不變而注量率降低，并重復上述步驟1），得到另一單粒子錯誤截面，若該單粒子錯誤截面與前一次單粒子錯誤截面的差異小于一預定值，則取該次單粒子錯誤截面為被測器件的最終單粒子錯誤截面值，若該單粒子錯誤截面與前一次單粒子錯誤截面之差大于一預定值，則繼續(xù)重復該步驟2）；

3）提供另一與被測器件相同的不進行三模冗余加固的對比器件，用與步驟1）中的LET值相同的高能粒子，在對比注量率下，輻照對比器件，當器件輸出特性不正確且在停止粒子束輻照的時間T1內(nèi)器件功能未恢復正常，則記錄1次單粒子錯誤，并多次重復輻照對比器件以得到多次單粒子錯誤，并計算單粒子錯誤截面；

4）計算未三模冗余加固的對比器件的單粒子錯誤截面與步驟2）得到的被測器件的最終單粒子錯誤截面的比值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，根據(jù)步驟4）得到的比值判斷加固效果，比值越大，則說明三模冗余加固效果大，比值越小，說明三模冗余加固效果越小。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中上述步驟1）和步驟3）中，停止輻照的時間T1為20至50秒。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中上述步驟1）中，多次重復輻照被測器件，直到累積出現(xiàn)預定次數(shù)的單粒子錯誤時停止輻照。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中上述步驟1）中，多次重復輻照被測器件，直到輻照累積注量達到預定量時停止輻照·。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中上述步驟3），多次重復輻照對比器件，直到累積出現(xiàn)預定次數(shù)的單粒子錯誤時停止輻照。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中上述步驟3）中，多次重復輻照對比器件，直到輻照累積注量達到預定量時停止輻照。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中上述步驟3中），所述對比注量率比步驟1）中所述的最終單粒子錯誤截面值所對應的注量率大兩個數(shù)量級。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中步驟2）中所述的預定值在0-10%之間。