[發(fā)明專(zhuān)利]混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210351128.3
• 申請(qǐng)日: 2012-09-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102938646A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-02-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鞠莉娜;王曉臣;董冀;劉海亮
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)第二一四研究所蘇州研發(fā)中心
• 主分類(lèi)號(hào): H03M1/10
• 分類(lèi)號(hào): H03M1/10
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛(wèi);李艷

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明中涉及了一種混合混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)，還涉及了一種混合混合集成電路的微調(diào)測(cè)試方法。

背景技術(shù)

目前數(shù)模轉(zhuǎn)換器在半導(dǎo)體測(cè)試中已經(jīng)是很成熟的測(cè)試技術(shù)，針對(duì)它已開(kāi)發(fā)了專(zhuān)門(mén)的測(cè)試設(shè)備，如專(zhuān)利號(hào)為200910048936.0的專(zhuān)利采用ARM核心片對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換器進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試、專(zhuān)利號(hào)為201010251150.1的專(zhuān)利是一種對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換電路的自測(cè)裝置和自測(cè)方法，但是目前針對(duì)基于混合混合集成電路的多路數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）的微調(diào)、測(cè)試尚待填補(bǔ)空缺。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)混合混合集成電路多路數(shù)模轉(zhuǎn)換電路的測(cè)試的需求，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單實(shí)用，節(jié)約了測(cè)試成本，提高了測(cè)試效率，靈活性很強(qiáng)，可移植性好。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種混合混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法，其有效提高數(shù)模轉(zhuǎn)換電路量程、轉(zhuǎn)換精度、通道一致性等多項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試。

本發(fā)明公開(kāi)了一種混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)，該混合集成電路包括多路DAC模塊，所述微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)包括信號(hào)產(chǎn)生器、數(shù)字撥碼開(kāi)關(guān)、通道選擇電路、鎖存譯碼單元；所述信號(hào)產(chǎn)生器產(chǎn)生第一段數(shù)字信號(hào)；所述數(shù)字撥碼開(kāi)關(guān)產(chǎn)生第二段數(shù)字信號(hào)；第一段數(shù)字信號(hào)與第二段數(shù)字信號(hào)共同構(gòu)成輸入多路DAC模塊的輸入信號(hào)；第二段數(shù)字信號(hào)輸入通道選擇電路以選擇多路DAC模塊的通道，并將選擇的通道存儲(chǔ)在鎖存譯碼單元；多路DAC模塊通過(guò)對(duì)輸入信號(hào)經(jīng)過(guò)模擬輸出，并將模擬輸出的結(jié)果以及通道傳遞給控制裝置，并通過(guò)控制裝置對(duì)多路DAC模塊進(jìn)行反饋調(diào)節(jié)。

優(yōu)選地，所述信號(hào)產(chǎn)生器為FPGA芯片。

優(yōu)選地，所述輸入信號(hào)共16位，所述第一段數(shù)字信號(hào)為所述輸入信號(hào)的高12位，所述第二段數(shù)字信號(hào)為所述輸入信號(hào)的低4位。

優(yōu)選地，它還包括一測(cè)量裝置，用于對(duì)模擬輸出進(jìn)行測(cè)量，并將測(cè)量的結(jié)果傳遞給控制裝置。

優(yōu)選地，所述信號(hào)產(chǎn)生器包括以下信號(hào)：Reset_b，優(yōu)先級(jí)最高，一旦檢測(cè)到下降沿時(shí)DAC測(cè)試模塊全部寄存器清零復(fù)位；Auto，高電平時(shí)，輸出數(shù)字信號(hào)自動(dòng)變換，低電平時(shí)，輸出數(shù)字信號(hào)手動(dòng)變換，Key起作用；Key，控鍵每按下一次后，輸出數(shù)字信號(hào)流變換一次；Direction，高電平時(shí)，輸出數(shù)字信號(hào)為自增模式，低電平時(shí)，輸出數(shù)字信號(hào)為自減模式；Special，高電平時(shí)，輸出數(shù)字信號(hào)為用戶自定義的數(shù)組，低電平時(shí)，輸出數(shù)字信號(hào)每個(gè)設(shè)定時(shí)鐘單位變化一個(gè)數(shù)字位；Start，高電平時(shí)，微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)工作，低電平時(shí)，微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)停止。

一種系統(tǒng)的微調(diào)測(cè)試方法，它包括以下步驟：

（1）偏置調(diào)整：當(dāng)輸入信號(hào)為0000H時(shí)，保證模擬輸出的結(jié)果為－10.000000V；

（2）增益調(diào)整：當(dāng)輸入信號(hào)為FFFFH時(shí)，保證模擬輸出的結(jié)果為9.999694V；

（3）零位調(diào)整：當(dāng)輸入信號(hào)為8000H時(shí)，保證模擬輸出的結(jié)果為0V。

優(yōu)選地，所述多路DAC模塊包括激光調(diào)阻裝置，該激光調(diào)阻裝置通過(guò)調(diào)整厚膜電阻以調(diào)節(jié)模擬信號(hào)的模擬輸出。

本發(fā)明采用以上結(jié)構(gòu)和方法，通過(guò)FPGA芯片產(chǎn)生有效、穩(wěn)定、可實(shí)時(shí)切換的數(shù)字信號(hào)，實(shí)現(xiàn)多路數(shù)模轉(zhuǎn)換電路量程、對(duì)稱(chēng)性參數(shù)高精度微調(diào)，滿足多路數(shù)模轉(zhuǎn)換電路精密測(cè)試的需求，有效提高數(shù)模轉(zhuǎn)換電路量程、轉(zhuǎn)換精度、通道一致性等多項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試。

附圖說(shuō)明

附圖1為本發(fā)明中的混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理圖。

附圖2為本發(fā)明中的信號(hào)產(chǎn)生器的原理示意圖。

附圖3為本發(fā)明中綜合仿真后的混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理圖。

附圖4為本發(fā)明中的混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)的第一仿真示意圖。

附圖5為本發(fā)明中的混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)的第二仿真示意圖。

附圖6為本發(fā)明中的混合集成電路的微調(diào)測(cè)試系統(tǒng)的握手協(xié)議示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。