[發明專利]LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法和裝置

在審

• 申請號: 201210350302.2
• 申請日: 2012-09-19
• 公開（公告）號: CN103686802A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 吳曉榮
• 申請（專利權）人: 聯芯科技有限公司
• 主分類號: H04W24/04
• 分類號: H04W24/04
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 石湘波

1.一種LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，包括：根據測量GAP與GSM幀之間的偏移量，將多個連續序列的測量GAP分成多組；利用其中一組或者多組測量GAP執行BSIC初始確認；利用剩余的一組或者多組測量GAP執行BSIC重確認或者RSSI測量。

2.如權利要求1所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，所述測量GAP與GSM幀之間的偏移量包括：第一偏移量、第二偏移量及第三偏移量，其中第二偏移量與第一偏移量之間相差8Δ、第三偏移量與第一偏移量之間相差4Δ，Δ=5/13ms。

3.如權利要求2所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，在GAP周期為40ms的情況下，將測量GAP分成六組，其中，兩組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第一偏移量；兩組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第二偏移量；兩組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第三偏移量。

4.如權利要求2所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，在GAP周期為80ms的情況下，將測量GAP分成三組，其中，一組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第一偏移量；一組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第二偏移量；一組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第三偏移量。

5.如權利要求1至4中的任一項所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，利用其中一組或者多組測量GAP執行BSIC初始確認時包括如下步驟：

利用測量GAP進行FCB同步；

在FCB同步之后，根據同步后的FCB接收SB，以實現BSIC初始確認。

6.如權利要求5所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，當利用一組或者多組測量GAP中的一測量GAP得到FCB同步之后，則利用與得到FCB同步的測量GAP同組中的下一測量GAP接收SB。

7.如權利要求1至4中的任一項所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，當有多個頻點需要執行BSIC初始確認時，同一組測量GAP執行其中一個頻點的BSIC初始確認。

8.如權利要求1至4中的任一項所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，根據BSIC初始確認的時間要求，選擇一組或者多組測量GAP執行BSIC初始確認。

9.如權利要求1至4中的任一項所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的方法，其特征在于，根據BSIC重確認的時間要求，判斷在剩余的一組或者多組測量GAP中的一測量GAP是否執行BSIC重確認。

10.LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的裝置，其特征在于，包括：

GAP分組模塊，用以根據測量GAP與GSM幀之間的偏移量，將多個測量GAP分成多組；

第一鄰區同步模塊，用以利用其中一組或者多組測量GAP執行BSIC初始確認；

第二鄰區同步模塊，用以利用剩余的一組或者多組測量GAP執行BSIC重確認或者RSSI測量。

11.如權利要求10所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的裝置，其特征在于，所述測量GAP與GSM幀之間的偏移量包括：第一偏移量、第二偏移量及第三偏移量，其中第二偏移量與第一偏移量之間相差8Δ、第三偏移量與第一偏移量之間相差4Δ，Δ=5/13ms。

12.如權利要求11所述的LTE/TD-SCDMA業務態下測量GSM鄰區的裝置，其特征在于，在GAP周期為40ms的情況下，所述GAP分組模塊將測量GAP分成六組，其中，兩組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第一偏移量；兩組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第二偏移量；兩組測量GAP與GSM幀之間的偏移量為第三偏移量。