[發明專利]路徑規劃方法

有效

• 申請號: 201210350073.4
• 申請日: 2006-04-12
• 公開（公告）號: CN102914281A
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發明（設計）人: 伊恩·威廉·麥克萊恩;若弗雷·麥克法蘭;戴維·斯文·瓦利亞塞
• 申請（專利權）人: 瑞尼斯豪公司
• 主分類號: G01B21/04
• 分類號: G01B21/04;G05B19/19
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 張煥生;謝麗娜

1.一種用于規劃設備軌跡的方法，所述設備被安裝在座標定位設備上并被安排為根據參數掃描表面輪廓，所安裝的設備具有安裝在其上的裝置，其中，所述座標定位設備用于產生所安裝的設備與所述座標定位設備的表面之間的沿軌跡的相對運動，并且其中，所安裝的設備包括驅動器，用于產生繞兩個或更多個軸線的旋轉運動，所述方法包括如下步驟：

對給定的軌跡判斷所述裝置的縱軸線是否將變為平行于或者基本平行于所安裝的設備的旋轉軸線；以及

當所述的判斷的步驟的判斷結果為是時則調整參數以使得所述裝置的縱軸線將不會變為平行于或者基本平行于所安裝的設備的旋轉軸線。

2.根據權利要求1的方法，其中所安裝的設備包括探頭。

3.根據權利要求2的方法，其中所述裝置包括表面檢測裝置，所述表面檢測裝置安裝在所述探頭上。

4.根據前述權利要求中任何一項的方法，其中所述調整參數的步驟包括選擇新的軌跡，使得所述裝置的縱軸線將不會變為平行于或者基本平行于所安裝的設備的旋轉軸線。

5.根據權利要求4的方法，其中所述新的軌跡是平行于所述給定的軌跡的偏移。

6.根據權利要求5的方法，其中所安裝的設備是探頭，并且安裝在該探頭上的裝置是表面檢測裝置，并且其中給定的軌跡是待由所述表面檢測裝置掃描的表面輪廓的標稱中心線，并且所述新的軌跡是平行于所述中心線的偏移。

7.根據權利要求1-3中任何一項的方法，其中所述調整參數的步驟包括重新取向待掃描的表面輪廓。

8.根據權利要求1-3中任何一項的方法，其中所述調整參數的步驟包括改變所述裝置的角速度。

9.根據權利要求1-3中任何一項的方法，其中所安裝的設備包括探頭，安裝在該探頭上的裝置包括探針，該探針具有測頭，其中所述調整參數的步驟包括改變所述測頭的長度。

10.根據權利要求1-3中任何一項的方法，其中所安裝的設備包括探頭，安裝在該探頭上的裝置包括非接觸式探針，其中所述調整參數的步驟包括改變所述非接觸式探針的偏移。