[發明專利]一種用于輝光光譜儀分析滲碳層化學成分的試樣制備方法有效
| 申請號： | 201210343892.6 | 申請日： | 2012-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN102879243A | 公開（公告）日： | 2013-01-16 |
| 發明（設計）人： | 楊黎青;郭子靜;趙勇 | 申請（專利權）人： | 西安航空動力股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N1/28 | 分類號： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 中國航空專利中心 11008 | 代理人： | 李建英 |
| 地址： | 710021*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 輝光 光譜儀 分析 滲碳 化學成分 試樣 制備 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于輝光光譜儀分析滲碳層化學成分的試樣制備方法，其特征是，（1）選擇試樣：
選擇直徑為70-80mm，厚度為20-40mm的試樣，試樣的材料與零件材料相同或接近；
（2）對試樣進行滲碳處理：
按照零件滲碳工藝要求，將選擇好的試樣隨滲碳零件共同進行滲碳處理，確保滲碳試樣能夠代表零件表面狀態；
（3）滲碳試樣的加工：
將滲碳試樣在磨床上進行加工，使試樣滲碳表面形成一個斜面，直徑方向或長度方向的最高處與最低處的高度差為2-3mm，確保最低處試樣表面去除量大于滲層深度。
2.根據權利要求1所述的一種用于輝光光譜儀分析滲碳層化學成分的試樣制備方法，其特征是，所述的選擇試樣的形狀為圓柱形、長方體或正方體。
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