[發明專利]一種高頻高壓整流器件反向恢復時間測試裝置

無效

• 申請號: 201210343876.7
• 申請日: 2012-09-18
• 公開（公告）號: CN103675635A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 李勁生;許發仁;陳冬
• 申請（專利權）人: 南京普愛射線影像設備有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

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技術領域

本發明屬于電子元件測試領域。

背景技術

在現代電控技術領域對高頻高壓整流的使用越來越多，如X射線檢測設備，這些設備的高頻高壓整流多數是用多個高頻高壓整流二極管串接而成；在使用中發現，在多個串接的高頻高壓整流二極管中，反向恢復時間快的高頻高壓整流二極管容易損壞，這樣就必須對所購買的高頻高壓整流二極管進行分類篩選，而篩選時的測試條件要符合產品的使用條件。

發明內容

本發明目的是：按產品使用條件來決定測試條件，將測試結果顯示出來供分類篩選，以保證產品質量。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：其結構包括顯示部（1）、時間間隔控制部（2）、時間電壓轉換控制部（3）、單片機程序控制部（4）、逆變控制部（5）、高壓包（6），其特征在于：以高壓包提供測試條件，用一塊雙運放集成電路U1分離出反向恢復時間間隔，間隔時間經單片機控制后，由雙運放集成電路U2經恒流充電積分獲得電壓信號，該信號由壓頻轉換送單片機計算并顯示。

本裝置由兩塊PCB板組成，逆變控制部（圖5，圖6）構成一塊PCB板，時間間隔控制部（圖2）、時間電壓轉換部（圖3）和單片機程序控制部（圖4）構成一塊電路板，各部間的連接關系見圖1。

逆變控制部（5）將單片機程序控制部（4）傳遞的時序脈沖變為高頻驅動脈沖，推動高壓包將24V驅動脈沖變為3500V高壓脈沖后傳遞到時間間隔控制部（2），時間間隔控制部（2）將被測器件工作條件的狀態傳遞到單片機程序控制部（4）；當單片機程序控制部（4）檢測到被測器件滿足測試條件后，立即發信號給時間間隔控制部（2），時間間隔控制部（2）將間隔時間傳到時間電壓轉換控制部（3）；時間電壓轉換控制部（3）按間隔時間給電容器恒流充電，恒流充電電容器經電壓保持器送壓頻轉換器AD654；單片機程序控制部（4）按程序讀取AD654脈沖，經內部運算后傳遞到LED數碼管，LED數碼管顯示數值。

本發明的有益效果是：性能穩定、操作簡單、便于維護，可以大大提高操作人員的工作效率。

附圖說明

圖1為結構方框圖。

圖2為時間間隔控制部圖。

圖3為時間電壓轉換控制部圖。

圖4為單片機程序控制部圖。

圖5為逆變控制部1圖。

圖6為逆變控制部2圖。

圖7為原理總圖。

具體實施方式

參照附圖，其結構包括顯示部、時間間隔控制部、時間電壓轉換控制部、單片機程序控制部、逆變控制部、高壓包，其特征在于：以高壓包提供測試條件，用一塊雙運放集成電路U1分離出反向恢復時間間隔，間隔時間經單片機控制后，由雙運放集成電路U2經恒流充電積分獲得電壓信號，該信號由壓頻轉換送單片機計算并顯示。

本裝置由兩塊PCB板構成整個系統：圖2、圖3、圖4構成一塊PCB板完成時間間隔采集（圖2）、電壓保持及壓頻轉換（圖3?）和單片機控制部分（圖4），±12V供電從P1輸入，圖5，圖6構成逆變驅動板，24V供電從P6輸入。

圖2中的高壓包T和被測高頻高壓整流二極管D1均為外接器件，不在電路板上；當接通電源，兩塊PCB板同時通電，單片機ATmega8經P3輸出顯示信號，四位數碼管全顯示8且PD3(A)為高；當接好圖2中的被測二極管D1，按下圖4中的起動按鈕K1，單片機啟動，經GO1~GO4隔離從P5輸出逆變時序脈沖，使圖5和圖6構成的逆變驅動板工作，從P8輸入時序脈沖信號，經P7輸出驅動脈沖至NB1、NB2推動高壓包T；高壓包T輸出的交流脈沖高壓經D1~D4整流，由R5和R6分壓送單片機PC4做A/D轉換測試。

當滿足測試條件時，ATmega8輸出脈沖使D2正極為高，單片機ATmega8的PD3口（A）即再輸出為低，經20uS延遲關斷逆變脈沖；在PD3口（A）為高，D7的B點為高，Q22關斷，Q1，Q2為高阻，當A點為低且20uS過后脈沖消失，經R1和R2的分壓使D7的B點為低時開通Q22，使Q1和Q2為低阻且導通，恒流源經R14和Q1給C7充電，同時經U2A第一腳送Q2給C8充電；在20uS延時的時間過后，由于D1反向恢復時間特性的影響，R3和R4分壓使D9的C點為低的時間和B點必不相同且必定滯后，于是產生了時間間隔；一旦C點為低，Q21即導通并關斷Q22，Q1和Q2呈高阻，C7的充電電壓值保存在C8中，經U2B第7腳送到U3（AD654）進行壓頻轉換，轉換頻率送ATmega8的T1計數和計算，再傳遞到數碼管顯示，此時一個測試周期即完成。