[發(fā)明專利]連接端子及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210343285.X | 申請日: | 2012-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN103682717A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 包中南;林鈺雄;黃圣翔;李佳諺;顏健軒 | 申請(專利權(quán))人: | 慶良電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01R13/02 | 分類號: | H01R13/02;H01R43/16 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 李靜;宮傳芝 |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 連接 端子 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種連接端子及其制造方法,尤指一種可提升接觸點可靠性的連接端子及其制造方法。
背景技術(shù)
按,如圖1以及圖2A所示,已知的連接器W1所具備的多為單端子形式連接端子W2,容易因為外力而使單端子形式連接端子W2翹起、變形而導(dǎo)致接觸不良的情形。
如圖2A、2B所示,日后為了改善接觸不良的情形,于是產(chǎn)生將單端子形式連接端子W2改為雙端子形式連接端子W3,雙端子形式連接端子W3共包含第一接觸部W31以及第二接觸部W32,以期許第一接觸部W31或第二接觸部W32兩者期中之一仍然可以保有正常的接觸。
然而事實并未如此理想,因為雙端子形式連接端子W3一旦遭受外界破壞力,第一接觸部W31與第二接觸部W32均會遭受到幾乎相同的破壞力,又如圖3所示,第一接觸部W31與第二接觸部W32兩者在相同的受力期間下(橫軸),皆具有幾乎相同的正向力(縱軸的實線與虛線)的緣故,因此第一接觸部W31及第二接觸部W32所產(chǎn)生的形變程度也會幾乎一樣,是以上述的方式皆無法真正有效提升端子的接觸可靠性。
于是,本發(fā)明人有感上述的課題,乃特潛心研究并配合學理的運用,終于提出一種設(shè)計合理且有效改善上述缺陷的本發(fā)明。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的,在于提供一種提升接觸點可靠性的連接端子及其制造方法,以有效改善已知連接端子接觸可靠性的問題。
為達上述目的,本發(fā)明提供一種提升接觸點可靠性的連接端子,該連接端子包含一端子基部,自該端子基部還延伸出至少包含:一第一接觸單元,該第一接觸單元包含有一第一接觸臂及一第一接觸端部;以及一第二接觸單元,該第二接觸單元包含有一第二接觸臂及一第二接觸端部,其中,該第一接觸單元及該第二接觸單元相互平行且彼此間隔一間隙,該第一接觸單元還自該第一接觸臂延伸出有一凸出部。
為達上述目的,本發(fā)明還提供一種提升接觸點可靠性的連接端子的制造方法,包含以下步驟:
提供該連接端子,該連接端子還包含一端子基部;
自該端子基部還延伸出至少包含一第一接觸單元及一第二接觸單元,該第一接觸單元及該第二接觸單元分別具有一第一接觸端部、一第一接觸臂及一第二接觸端部、一第二接觸臂,而該第一接觸單元及該第二接觸單元彼此相間隔一間隙;以及
自該第一接觸單元的第一接觸臂延伸出一凸出部。
優(yōu)選地,如上所述的方法,其中該凸出部僅延伸至該間隙,且使該凸出部進一步延伸并連接至該端子基部。
優(yōu)選地,如上所述的方法,其中該凸出部朝遠離該第二接觸單元的方向延伸,且該凸出部進一步延伸并連接至該端子基部。
優(yōu)選地,如上所述的方法,其中該凸出部朝遠離該第二接觸單元的方向延伸,且該凸出部進一步延伸并連接至該端子基部。
優(yōu)選地,如上所述的方法,其中該凸出部相對于該第一接觸臂斜向地延伸并連接至該第二接觸臂。
優(yōu)選地,如上所述的方法,其中還包含使該凸出部延伸連接至該端子基部。
綜上所述,本發(fā)明通過該凸出部的技術(shù)手段,可有效改變該第一接觸單元以及該第二接觸單元的正向力,因此在遭受一外界破壞力時,所產(chǎn)生的形變不會幾乎一致,因此更能有效地保留仍可正常接觸的端子,以有效提升接觸的可靠性。
為使能更進一步了解本發(fā)明的特征及技術(shù)內(nèi)容,請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細說明與附圖,然而所附圖式僅提供參考與說明用,并非用來對本發(fā)明加以限制者。
附圖說明
圖1為已知的連接器示意圖;
圖2A為已知的單端子形式連接端子示意圖;;
圖2B為已知的雙端子形式連接端子示意圖;
圖3為已知的雙端子形式連接端子的正向力測試數(shù)據(jù)曲線圖;
圖4為具有本發(fā)明提升接觸點可靠性的連接端子的連接器示意圖;
圖5A為本發(fā)明提升接觸點可靠性的連接端子的第一實施例示意圖;
圖5B為本發(fā)明提升接觸點可靠性的連接端子的第一實施例的變化型態(tài)示意圖;
圖6為本發(fā)明圖5A的第一實施例的正向力測試數(shù)據(jù)曲線圖;
圖7為具有本發(fā)明第二實施例的提升接觸點可靠性的連接端子的連接器示意圖;
圖8A為本發(fā)明提升接觸點可靠性的連接端子的第二實施例示意圖;
圖8B為本發(fā)明提升接觸點可靠性的連接端子的第二實施例的變化型態(tài)示意圖;
圖9為本發(fā)明圖8A的第二實施例的正向力測試數(shù)據(jù)曲線圖;以及
圖10為本發(fā)明提升接觸點可靠性的連接端子的制造方法流程圖。
【主要元件符號說明】
本發(fā)明
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