[發明專利]位置測量系統的掃描組件

在審

• 申請號: 201210339968.8
• 申請日: 2012-09-14
• 公開（公告）號: CN102997947A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: A.格魯貝爾;J.多爾曼;M.辛德勒
• 申請（專利權）人: 約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
• 主分類號: G01D5/26
• 分類號: G01D5/26;G01B11/02;G01B11/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 梁冰;楊國治

1.一種位置測量系統的掃描組件，具有：

-用于產生電磁輻射的輻射源（4），借助于所述輻射源能掃描所述位置測量系統的量具（50）；

-所述輻射源（4）的基座（1），在所述基座上能固定所述輻射源（4）并且設有用于電接觸所述輻射源（4）的電導體元件（3）；和

-所述輻射源（4）的電連接元件（44、46），所述輻射源（4）通過所述連接元件與所述基座（1）的導體元件（3）電接觸，

其特征在于，

所述基座（1）的導體元件（3）和所述輻射源（4）的連接元件（44、46）形成引導部，在所述引導部上，所述輻射源（4）在其固定在所述基座（1）上之前、在保持所述輻射源（4）與所述導體元件（3）之間的電接觸的情況下能關于所述基座（1）沿調節軌道（B）運動，以便能使所述輻射源（4）在所述基座（1）上沿所述調節軌道（B）布置在不同的位置中，其中所述輻射源（4）分別與所述導體元件（3）電接觸。

2.根據權利要求1所述的掃描組件，其特征在于，所述引導部具有至少一個印制導線（34、36）和所屬的電接觸元件（44、46），它們能沿著所述調節軌道（B）彼此相對移位并且同時相互電接觸，從而所述輻射源（4）關于所述基座（1）在不同的相對位置中進行電接觸。

3.根據權利要求2所述的掃描組件，其特征在于，所述引導部具有兩個沿著所述調節軌道（B）延伸的印制導線（34、36）和配屬的電接觸元件（44、46）。

4.根據權利要求2或3所述的掃描組件，其特征在于，所述至少一個印制導線（34、36）作為電導體元件設置在所述基座（1）上，并且分別所屬的電接觸元件作為連接元件（44、46）設置在所述輻射源（4）上的。

5.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，所述引導部設計用于使所述輻射源（4）進行直線引導的運動。

6.根據權利要求5所述的掃描組件，其特征在于，所述導體元件（3）的、用于電接觸所述輻射源（4）的連接部段（34、36）和/或分別配屬的連接元件（44、46）直線地延伸。

7.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，所述輻射源（4）的至少一個連接元件（44、46）通過突出于所述輻射源（4）的連接腿形成。

8.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，所述輻射源（4）的至少一個連接元件（44′）設置在所述輻射源（4）的殼體（40）上。

9.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，所述基座（1）具有容納部（22），所述輻射源（4）布置在所述容納部上并且能沿所述調節軌道（B）運動。

10.根據權利要求9所述的掃描組件，其特征在于，在基座側的導體元件（3）的連接區域（34、36）在所述容納部（22）旁延伸，所述連接區域用于通過所述輻射源的連接元件（44、46）來電接觸所述輻射源（4）。

11.根據權利要求9所述的掃描組件，其特征在于，在基座側的導體元件（3）的連接區域（34、36）在所述容納部（22）前延伸，所述連接區域用于通過所述輻射源的連接元件（44、46）來電接觸所述輻射源（4）。

12.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，為了將所述輻射源（4）固定在所述基座（1）上，所述連接元件（44、46）材料配合地與在基座側的電導體元件（3）的連接區域（34、36）相連接。

13.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，所述基座（1）具有由電絕緣材料制成的基體（2），在所述基體上，所述導體元件（3）作為印制導線延伸。

14.根據前述權利要求中任一項所述的掃描組件，其特征在于，所述輻射源（4）配備有透鏡（6），以便使由輻射源（4）發出的電磁輻射視準，并且在所述輻射源（4）和所述透鏡（6）之間的需要用于準直的距離能通過所述輻射源（4）關于所述基座（1）沿著所述調節軌道（B）進行的運動來調節。