[發明專利]過電流保護電路

有效

• 申請號: 201210339571.9
• 申請日: 2012-09-13
• 公開（公告）號: CN103001202A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 川本一平;久田剛巧;石川富久夫;杉浦晃
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝;安電株式會社
• 主分類號: H02H9/02
• 分類號: H02H9/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉瑜;王英

1.一種過電流保護電路，包括：

負載驅動部分，用于驅動負載（3）；

導線（4），與所述負載（3）和所述負載驅動部分耦合；

電流檢測部分（6），用于檢測流入所述負載（3）的電流的負載電流值，所述電流檢測部分（6）包括AD轉換器（6d）和電流值計算電路（6e），所述AD轉換器（6d）接收與所述負載電流值相對應的檢測信號并且對所述檢測信號進行模數轉換，所述電流值計算電路（6e）根據所述AD轉換器（6d）所轉換的所述檢測信號來計算所述負載電流值；

加法和減法部分（7），用于基于所述電流檢測部分（6）檢測到的所述負載電流值確定加減值，存儲使用所述加減值的加法和減法的積分結果，并發送所述積分結果，所述加法和減法部分（7）包括加值確定電路（7a），所述加值確定電路（7a）基于所述電流值計算電路（6e）計算出的所述負載電流值以及指示所述負載電流值與所述加減值中的加值之間的關系的函數表達式或信息來確定所述加值；

比較電路（8），用于將從所述加法和減法部分（7）發送的所述積分結果與閾值進行比較，并發送指示過電流檢測結果的信號；以及

控制電路（5），用于基于從所述比較電路（8）發送的指示所述過電流檢測結果的所述信號來控制所述負載驅動部分，以限制流入所述負載（3）和所述導線（4）的所述電流，并使得保護對象免受過電流。

2.根據權利要求1所述的過電流保護電路，

其中，所述負載驅動部分包括半導體開關（2），

其中，所述電流檢測部分（6）還包括溫度檢測電路（6b），所述溫度檢測電路（6b）發送與所述半導體開關（2）的溫度相對應的溫度檢測信號，

其中，所述AD轉換器（6d）接收從所述溫度檢測電路（6b）發送的所述溫度檢測信號，并對所述溫度檢測信號進行模數轉換，并且

其中，所述電流值計算電路（6e）基于所述AD轉換器（6d）所轉換的所述溫度檢測信號來對所述負載電流值執行溫度校正。

3.根據權利要求2所述的過電流保護電路，

其中，所述電流檢測部分（6）還包括復用器（6c），所述復用器（6c）在與所述負載電流值相對應的所述檢測信號與從所述溫度檢測電路（6b）發送的所述溫度檢測信號之間切換被發送到所述AD轉換器（6d）的信號。

4.根據權利要求2所述的過電流保護電路，

其中，所述電流檢測部分（6）還包括電流校正信息存儲部分（6f），所述電流校正信息存儲部分（6f）相對于所述半導體開關（2）的溫度存儲電流校正信息，并且

其中，所述電流值計算電路（6e）根據從所述AD轉換器（6d）所轉換的所述溫度檢測信號獲得的、所述半導體開關（2）的溫度，使用在所述電流校正信息存儲部分（6f）中存儲的所述電流校正信息，來對所述負載電流值執行所述溫度校正。

5.根據權利要求4所述的過電流保護電路，

其中，所述過電流檢測部分（6）還包括電壓檢測電路（6a），所述電壓檢測電路（6a）檢測所述半導體開關（2）的漏-源電壓，以作為與所述負載電流值相對應的所述檢測信號，

其中，所述電流值計算電路（6e）根據所述半導體開關（2）的所述漏-源電壓和導通電阻來計算所述負載電流值，

其中，所述電流校正信息存儲部分（6f）存儲與所述半導體開關（2）的溫度與所述導通電阻之間的關系有關的信息，以作為所述電流校正信息，并且

其中，所述電流值計算電路（6e）通過根據所述半導體開關（2）的溫度校正所述導通電阻，來對根據所述漏-源電壓和所述導通電阻計算出的所述負載電流值執行所述溫度校正。

6.根據權利要求1-5中的任意一項所述的過電流保護電路，

其中，所述加值確定電路（7a）計算與所述負載電流值的平方成比例的值，并將所述加值設置成與所述負載電流值的平方成比例的值。

7.根據權利要求1-5中的任意一項所述的過電流保護電路，

其中，所述加法和減法部分（7）還包括電流確定信息存儲部分（7b），所述電流確定信息存儲部分（7b）包括所述負載電流值與所述加值之間的信息，并且

其中，所述加值確定電路（7a）使用所述電流確定信息存儲部分（7b）中存儲的所述信息來確定與所述電流值計算電路（6e）計算出的所述負載電流值相對應的所述加值。