[發明專利]旋轉位置測量裝置

有效

• 申請號: 201210338229.7
• 申請日: 2012-09-13
• 公開（公告）號: CN102997948A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: U.本納
• 申請（專利權）人: 約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
• 主分類號: G01D5/34
• 分類號: G01D5/34;G01B11/26;G01B11/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 梁冰;楊國治

1.一種旋轉位置測量裝置，具有：

-光源（10；100；1000）；

-帶有旋轉對稱的反射的量具（20；200；2000）的刻度盤（210）；和

-光電的探測裝置（30；300；3000），其中，

-所述刻度盤（210）能相對于所述光源（10；100；1000）和所述探測裝置圍繞旋轉軸線（R）進行旋轉，從而在相對旋轉的情況下能通過所述探測裝置（30；300；3000）來檢測與旋轉角度相關的位置信號，并且其中

-所述光源（10；100；1000）在所述旋轉軸線（R）上布置成以第一距離（u）與所述量具（20；200；2000）間隔開，并且

-所述探測裝置（30；300；3000）布置成以第二距離（v）與所述量具（20；200；2000）間隔開，所述第二距離不同于所述第一距離（u），并且其中

-所述刻度盤包括光學器件，所述光學器件具有這樣的光學作用，使得所述光源（10；100；1000）成像到一位置中，所述位置與量具（20；200；2000）之間具有第三距離（u′），其中，所述第三距離（u′）根據數值與所述第一距離（u）不同。

2.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，所述第三距離（u′）與所述第二距離（v）相同。

3.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，在所述刻度盤（210）上的光學器件具有一種光學作用，所述光學作用與具有定義的焦距（f）的凹面鏡的光學作用相應。

4.根據權利要求3所述的旋轉位置測量裝置，其中，通過在刻度盤（210）上的光學器件引起所述光源（10；100；1000）真實成像到一位置中，從而從所述位置發射的光束首先經過所述探測裝置（30；300；3000）、射到所述量具（20；200；2000）上并且在那里形成反射之后會聚地朝向所述探測裝置（30；300；3000）傳播。

5.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，在所述刻度盤（210）上的光學器件具有一種光學作用，所述光學作用與具有定義的焦距（f）的凸面鏡的光學作用相應。

6.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，所述量具（20；200；2000）設計成徑向刻度，所述徑向刻度由帶有不同的反射特性的、圓環形地布置的刻度區（220a、220b）組成。

7.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，反射較強的刻度區（220b）如此形成在所述刻度盤（210）上，使得在其上引起了對入射到其上的光束的光學作用。

8.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，所述光學器件設計成在所述刻度盤（210）的支承基板上的旋轉對稱的梯級結構。

9.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，所述光源（10；100；1000）在沒有中間插入的光學元件的情況下完全照明所述量具（20；200；2000）。

10.根據權利要求1所述的旋轉位置測量裝置，其中，所述探測裝置（30；300；3000）包括圓環形的探測器陣列（310），所述探測器陣列由多個圓環形地圍繞所述旋轉軸線（R）布置的探測元件組成。