[發明專利]超聲波探頭及超聲波圖像診斷裝置

有效

• 申請號: 201210337944.9
• 申請日: 2012-09-12
• 公開（公告）號: CN102988079A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 松田洋史
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00;G01N29/24;G01S15/08;G01P5/24
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種超聲波探頭，所述超聲波探頭具有壓電元件，其特征在于，

所述壓電元件具備：

基板，具有開口部；

支撐膜，設置于所述基板上，在從所述基板的厚度方向俯視觀察時，設置成堵塞所述開口部的一側開口的狀態；

下部電極層，在所述俯視觀察中，在所述支撐膜上，以連續的狀態設在所述開口部內與所述開口部外；

第一壓電體層，在所述俯視觀察中，設置在所述開口部內的所述下部電極層上；

上部電極層，設置于所述第一壓電體層上；以及

第二壓電體層，在所述俯視觀察中，在所述下部電極層上配置在所述開口部外并且與所述第一壓電體層分開地配置。

2.根據權利要求1所述的超聲波探頭，其特征在于，

所述下部電極層具有：下部電極本體部，在所述俯視圖中，在所述下部電極本體部的上部設置有所述第一壓電體層；以及下部電極配線部，在所述俯視觀察中，從所述下部電極本體部連續向所述開口部外形成，

所述第二壓電體層設置于所述下部電極配線部上。

3.根據權利要求1或2所述的超聲波探頭，其特征在于，

所述第二壓電體層設置在所述俯視觀察中不與所述開口部重疊的位置。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的超聲波探頭，其特征在于，

在所述第二壓電體層上設有與所述下部電極層連接的配線層。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的超聲波探頭，其特征在于，

在所述第二壓電體層上設有與所述上部電極層連接的配線層。

6.根據權利要求2所述的超聲波探頭，其特征在于，

所述下部電極配線部具備：

元件連接線，在所述俯視觀察中，以連續的狀態設在所述開口部內與所述開口部外，并與所述下部電極本體部連接；以及

下部電極配線，與所述元件連接線相連，并以比所述元件連接線的線寬窄的線寬設置，并且在所述俯視觀察中位于所述開口部的外側，

所述第二壓電體層以覆蓋所述下部電極配線的方式設置。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的超聲波探頭，其特征在于，

所述超聲波探頭具備多個所述壓電元件，所述壓電元件在第一方向以一定的間距排列，并且在與所述第一方向正交的第二方向以一定的間距配置。

8.根據權利要求7所述的超聲波探頭，其特征在于，

配置所述壓電元件的所述第一方向的間距與配置所述壓電元件的所述第二方向的間距是相同的間距。

9.一種超聲波圖像診斷裝置，其特征在于，

具備權利要求1至8中任一項所述的超聲波探頭。