[發明專利]光學檢測器

有效

• 申請號: 201210337734.X
• 申請日: 2010-05-07
• 公開（公告）號: CN102890073A
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發明（設計）人: 瀨川雄司;世取山翼;甲斐慎一
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;馬強

1.一種光學檢測器，包括：

多個光照射裝置，用于照射各自設置為與各個光照射裝置對準的多個孔；

多個光檢測裝置，用于檢測穿過所述多個孔的光；以及

加熱裝置，用于加熱所述多個孔；

其中，所述多個光照射裝置、所述多個光檢測裝置和所述加熱裝置設置在各自的基板，并且用于所述加熱裝置的基板在用于所述多個光照射裝置的基板和用于所述多個光檢測裝置的基板之間。

2.根據權利要求1所述的光學檢測器，其中，

所述加熱裝置設置在整個所述用于所述加熱裝置的基板。

3.根據權利要求1所述的光學檢測器，其中

多個所述加熱裝置與所述孔對準地設置在所述第二基板中。

4.根據權利要求1所述的光學檢測器，其中

所述加熱裝置包括在所述第二基板中被圖案化的透明電極。

5.根據權利要求4所述的光學檢測器，其中

所述透明電極為ITO電極或ZnO電極。

6.根據權利要求1或2所述的光學檢測器，其中，

所述用于所述加熱裝置的基板被堆疊在所述多個孔的面向所述用于所述多個光照射裝置的基板的一側上。

7.根據權利要求1或2所述的光學檢測器，其中

所述用于所述加熱裝置的基板以將所述多個孔夾在中間的方式堆疊在所述多個孔的兩側上。

8.根據權利要求1或2所述的光學檢測器，其中

在所述光照射裝置與所述孔之間設置有多個聚光透鏡。

9.根據權利要求1或2所述的光學檢測器，其中

在所述孔與所述光檢測裝置之間設置有多個聚光透鏡。

10.根據權利要求1或2所述的光學檢測器，用作能夠檢測所述孔中的核酸擴增的核酸擴增檢測器。

11.根據權利要求10所述的光學檢測器，其中

等溫擴增法被用于所述核酸擴增。

12.根據權利要求11所述的光學檢測器，其中

SMAP法、LAMP法、ICAN法以及NASBA法中的一種被選擇用于所述核酸擴增，其中，SMAP、LAMP、ICAN和NASBA分別表示智能擴增處理、環介導等溫擴增、等溫的且嵌合引物引發的核酸擴增、以及依賴核酸序列的擴增。