[發(fā)明專利]一種多通道高速并行交替采樣系統(tǒng)的失配誤差校準(zhǔn)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210336526.8 | 申請日: | 2012-09-13 |
| 公開(公告)號: | CN102857225A | 公開(公告)日: | 2013-01-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 閻波;焦少波;沈建;姚遠(yuǎn);林水生;李廣軍 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 電子科技大學(xué)專利中心 51203 | 代理人: | 李明光 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 通道 高速 并行 交替 采樣系統(tǒng) 失配 誤差 校準(zhǔn) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及高速采樣技術(shù),還涉及誤差估計校準(zhǔn)技術(shù)。
背景技術(shù)
隨著通信系統(tǒng)、數(shù)字信號處理、大規(guī)模集成電路和計算機(jī)的發(fā)展,對實時數(shù)據(jù)采樣率要求更高,而現(xiàn)在的模數(shù)轉(zhuǎn)換技術(shù)(ADC)由于工藝、技術(shù)等因素受到制約,單片ADC難以在滿足高速度的同時依然滿足高精度的要求,因此采用多片ADC的時間交替模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Time-Interleaved?Analog-to?Digital?Converter,TIADC)可以在保持單片ADC精度不變的情況下,系統(tǒng)整體的采樣率達(dá)到單片ADC采樣率的M(通道數(shù))倍。
但是,由于實際制造工藝的限制,使得各個子通道之間存在以下幾種失配誤差。這些失配誤差降低了TIADC系統(tǒng)的無雜散動態(tài)范圍(SFDR,Spurious?Free?Dynamic?Range),降低整個系統(tǒng)的有效分辨率。
國內(nèi)外的研究機(jī)構(gòu)針對偏置失配誤差、增益失配誤差和時間失配誤差的研究很多,提出了許多失配誤差的校準(zhǔn)技術(shù)。偏置失配誤差對于系統(tǒng)相當(dāng)于產(chǎn)生的加性噪聲,可以使用加法器進(jìn)行補(bǔ)償。增益失配誤差對于系統(tǒng)相當(dāng)于附加的乘性噪聲,可以使用乘法器進(jìn)行補(bǔ)償。時間失配誤差相當(dāng)于系統(tǒng)非均勻采樣,通過估計各通道的時間失配誤差,經(jīng)過延遲濾波器進(jìn)行補(bǔ)償。在通道失配誤差校準(zhǔn)方面,偏置失配誤差和增益失配誤差的校準(zhǔn)相對比較簡單,時間失配誤差的校準(zhǔn)復(fù)雜度較高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是,在多通道高速并行交替采樣系統(tǒng)中,在保證校準(zhǔn)性能的情況下,提供一種復(fù)雜度低,易于硬件實現(xiàn)的失配誤差校準(zhǔn)方法。
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是,一種多通道高速并行交替采樣系統(tǒng)的失配誤差校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括以下步驟:
一、偏置與增益失配誤差校準(zhǔn)步驟:估計各通道的偏置失配誤差與增益失配誤差;通過乘法器實現(xiàn)增益失配誤差校準(zhǔn),通過減法器實現(xiàn)偏置誤差校準(zhǔn),輸出經(jīng)增益失配與偏差失配校正后M路通道信號,M為TIADC的通道總數(shù);
二、時間失配誤差校準(zhǔn)步驟:
a、時間失配誤差估計:
a1、計算相鄰?fù)ǖ篱g的互相關(guān)函數(shù)Ri,i+1,
其中,xi[n]表示第i通道的數(shù)字信號,xi+1[n]表示第i+1通道數(shù)字信號,N表示單通道上的采樣點數(shù),M為通道總數(shù);
a2、以0通道為參考,計算各通道的時間誤差估計代價函數(shù)Ci:
Ci=(Ri-1,i-Ri,i+1)2(i=1,…,M-1)
其中,Ri-1,i表示第i通道與上一個相鄰?fù)ǖ篱g的互相關(guān)函數(shù),Ri,i+1表示第i通道與下一個相鄰?fù)ǖ篱g的互相關(guān)函數(shù);
a3、以0通道為參考,更新各通道的迭代時間誤差估計值Δti(k+1):
Δti(k+1)=Δti(k)+μ×Ci(i=1,…,M-1)
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