[發(fā)明專利]一種TFT-LCD陣列基板及其測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210335918.2
• 申請日: 2012-09-12
• 公開（公告）號: CN102831852B
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 文松賢;蔡榮茂;廖學(xué)士;莊益壯;鄧明鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36;G02F1/13;G02F1/1362
• 代理公司: 深圳匯智容達專利商標事務(wù)所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅;熊賢卿

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶面板的測試技術(shù)，尤其涉及一種薄膜晶體管液晶顯示器（Thin?Film?Transistor?liquid?crystal?display,?TFT-LCD）陣列基板及其測試方法。

背景技術(shù)

TFT-LCD是目前唯一在亮度、對比度、功耗、壽命、體積和重量等綜合性能上全面趕上和超過陰極射線管（Cathode?Ray?Tube,?CRT）顯示器的顯示器件，它具有性能優(yōu)良、大規(guī)模生產(chǎn)特性好以及自動化程度高等優(yōu)點，迅速成為目前的主流產(chǎn)品。TFT-LCD?中的液晶面板由薄膜晶體管陣列基板（array基板）、彩色濾光陣列基板（CF基板）和夾在該兩基板間的液晶共同構(gòu)成。其中，Array基板與CF基板是經(jīng)由化學(xué)或物理的方法成膜，然后曝光，顯影，蝕刻得到設(shè)計所需的陣列基板。在TFT-LCD?液晶面板出貨前，為保證產(chǎn)品質(zhì)量，必須經(jīng)由一道檢測程序，主要為檢查液晶面板中各TFT結(jié)構(gòu)是否正常。

現(xiàn)有的液晶面板測試的技術(shù)中，主要采用測試短棒（Short?bar）面板布線方式來測試。如圖1所示，示出了一種典型的TFT-LCD陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖；其中，該液晶面板包括顯示區(qū)1和位于顯示區(qū)外圍的外圍區(qū)域2。

在顯示區(qū)1內(nèi)設(shè)置有多條相互垂直的數(shù)據(jù)線10和柵線12，每條數(shù)據(jù)線10和柵線12交叉處連接一個TFT單元14，每個TFT單元14包括有TFT、液晶電容和存儲電容。每個TFT單元14中的TFT的源極連接該數(shù)據(jù)線10，其柵極連接該柵線12。在外圍區(qū)域內(nèi)設(shè)置有：第一測試短棒，其上設(shè)置有多條數(shù)據(jù)測試線30（分別對應(yīng)于紅綠綠藍R/G/B的測試），分別和顯示區(qū)1中各數(shù)據(jù)線10分別連接，用于向這些數(shù)據(jù)線10發(fā)送數(shù)據(jù)測試信號；第二測試短棒，其上設(shè)置有柵線測試線40和公共電極線41，其中，柵線測試線40和顯示區(qū)1中各柵線12相連接，用于向這些柵線發(fā)送柵線測試信號；公共電極線41用于向顯示區(qū)1中各TFT單元14提供公共電極。其中，數(shù)據(jù)測試信號和柵線測試信號均可以是方波信號，通過上述信號，即可以點亮各TFT單元來進行缺陷檢查。

當(dāng)上述檢測完成后，即可以從位置6切開，把外圍區(qū)域2和顯示區(qū)1進行分離，然后將該去除了外圍區(qū)域2的液晶面板出貨到下一工序（例如進行后續(xù)制程）。?

發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在現(xiàn)在的技術(shù)中，在下一工序中如果發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品存在問題，由于液晶面板的測試棒已被分離，故不能再單獨針對液晶面板進行測試，從而不易甄別不良產(chǎn)品的其出現(xiàn)的問題是在液晶面板上還是在后續(xù)的制程上。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種TFT-LCD陣列基板以及其測試方法，可以對TFT-LCD陣列基板進行二次測試，以克服現(xiàn)有技術(shù)中對出貨后的TFT-LCD陣列基板不能夠進行再次測試的不足之處。

為了解決上述技術(shù)問題，一方面，本發(fā)明的實施例提供了一種TFT-LCD陣列基板，包括顯示區(qū)和位于所述顯示區(qū)外圍的外圍區(qū)域，所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有柵線和數(shù)據(jù)線，所述外圍區(qū)域內(nèi)設(shè)置有：

第一測試短棒，其上設(shè)置有多條測試線，用于分別向顯示區(qū)中各數(shù)據(jù)線發(fā)送數(shù)據(jù)測試信號；

第二測試短棒，其上設(shè)置有柵線測試線，用于向顯示區(qū)中各柵線發(fā)送柵線測試信號；

在所述第一測試短棒的數(shù)據(jù)測試線與顯示區(qū)的一條數(shù)據(jù)線連接處，或在第二測試短棒的柵線測試線與顯示區(qū)的至少一條柵線連接處設(shè)置有包含有第一連接層和第二連接層的連接裝置；

其中，所述連接裝置包括：

第一連接層，其一端連接所述數(shù)據(jù)測試線或柵線測試線，另一端連接對應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線；

第二連接層，設(shè)置在所述第一連接層下面，至少部分與所述第一連接層位置重疊；

絕緣層，設(shè)置在所述第一連接層與所述第二連接層之間；

保護層，設(shè)置在所述第一連接層上面。

優(yōu)選地，在所述第一連接層與所述第二連接層重疊的部份上至少設(shè)置有一個可經(jīng)激光打斷的第一區(qū)域；

在所述第一連接層的所述第一區(qū)域兩側(cè)分別設(shè)置有一個可經(jīng)激光焊接與所述第二連接層連通的第二區(qū)域。

相應(yīng)地，本發(fā)明的另一方面提供一種TFT-LCD陣列基板的測試方法，包括：

所述第一測試短棒和第二測試短棒通過第一連接層向顯示區(qū)中的各數(shù)據(jù)線和柵線發(fā)送測試信號，進行首次測試；

在首次測試完成后，斷開所述第一測試短棒和第二測試短棒與所述顯示區(qū)的各數(shù)據(jù)線和柵線之間的電連接；

通過第二連接層，重新建立所述第一測試短棒和第二測試短棒與所述顯示區(qū)的各數(shù)據(jù)線和柵線之間電連接；